产品概述：
SPA-110 是 Santec 的下一代扫描光子学分析仪。它用作 Santec 可调谐激光器的便捷光频域反射法 （OFDR） 附加模块。配对后，这个完整的系统甚至可以分析紧凑和复杂的光学元件，提供反射率、透射率、传播损耗和事件距离的详细结果。
整个系统使用光频域反射法 （OFDR） 技术来分析空间域中光纤器件和元件的背向反射和传输特性。它生成的迹线类似于光时域反射仪 （OTDR） 的迹线，但分辨率和精度明显更高。该系统的采样分辨率为 5 μm，可轻松识别光子集成电路 （PIC） 和硅光子 （SiPh） 器件内的结构。
SPA-110 基于 Santec 的 SPA-100 技术，将总测量范围从 5 米扩展到 30 米。这种增加的范围允许在光纤设置中添加光信号调节设备，例如偏振控制器和光开关。这一增强功能使该系统特别适用于对硅光子电路、光纤元件和紧凑型光纤组件等小型器件进行更全面的表征。
此外，扩展的扫描长度允许分析具有紧密间隔组件的较长光缆组件，而 OTDR 技术可能难以区分它们。
产品特点：
业界最高分辨率的反射计 （<5 μm）
测量光学元件上的插入损耗和回波损耗
改进的 30m 测量范围
用于硅光子对准和测试的接近传感
与 Santec TSL-570（也称为 TSL-550/TSL-710/TSL-770）集成)
用于集成 OPM 的馈通端口，用于硅光子器件的主动对准
用于硅光子应用的保偏光纤
WDL 测量的宽扫描范围（高达 160 nm）
提供 O 波段和 CL 波段配置。
宽动态范围 （>80 dB），用于 WDL 测量，无需增益切换
包括简单的分析软件
