薄膜热物性测试仪

HCX09A薄膜热物性测试仪

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￥ 65000 1件

具体成交价以合同协议为准
2024-08-21 11:08:30
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湘潭华丰仪器制造有限公司

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产品简介

该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时，同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不定相同，因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。根据物体表面温度按余弦（或正弦）规律变化时的瞬态实验模型。采用温度波法来测试薄膜材料的热物性参数，由于薄膜是有限厚的维模型。在这状态下，当温度振荡频率达到定值后，利用样品上、下表面温度的相位差计算导温系数或导热系数。仪器于研究薄膜材料

详细介绍

HCX09A薄膜热物性测试仪主要技术参数：

1．导热系数范围：0.05～20w/m·k

2．仪器实现数字化测温，精度优于0.2级。

3．测量结果，准确度 ±3%

4．计量加热功率可调节±1%。

5.试样尺寸要求：圆柱体￠15--30*5--30mm .

6.温度和保护气氛按用户要求定制。

7.配接计算机实现全自动测试分析。

 

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