MF-8102涂层测厚仪 测量范围：0-1250um

GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度的测量（磁性方法）
GB/T 4957-1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量（涡流方法）
JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测厚仪
MF-8102涂层测厚仪 测量范围：0-1250um特点
1.便携设计，手掌大小
2.采用高速的DSP芯片，具有快速的测量能力
3.人性化设计，简单操作。
4.在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质，无需手动转换
5.两种校准方式，零点校准和二点校准
6.宽角度LCD液晶显示
7.公制和英制单位转换
8.具有电源欠电压提示
9.操作过程有蜂鸣声提示
10.具有自动关机功能

涂层测厚仪JT810F技术参数
测量范围：0-1250um
工作电源：两节五号电池
测量精误差：零点校准 ±（1.5+3%H）；二点校准±【（1%～3%H）】H+1.5
环境温度0-40℃
相对湿度≤85%
小基体10*10mm
小曲率凸5mm;凹5mm
薄基体：0.4mm
重量：99克（含电池）
尺寸102mm*66mm*24mm

仪器型号说明

一体型式
MF810F 磁感应测厚仪
MF810NF 涡流测厚仪
MF8102 磁感应、涡流两用测厚仪
带线式
MF820F 磁感应测厚仪
MF820NF 涡流测厚仪
MF8202磁感应、涡流两用测厚仪