DSC-500AOIT差示扫描量热仪(氧化诱导型）氧化诱导时间分析仪

前言：

氧化诱导期(OIT)是测定试样在高温(200摄氏度)氧气条件下开始发生自动催化氧化反应的时间，该试验

是评价材料在成型加工、储存、焊接和使用中耐热降解能力的指标。测试氧化诱导期(简称OIT)方法是一种采用差热分析法(DTA)以塑料分子链断裂时的放热反应为依据，测试塑料在高温氧气中加速老化程度的方法。其原理是:将塑料试样与惰性参比物(如氧化铝)置于差热分析仪中，使其在一定温度下用氧气迅速置换试样室内的惰性气体(如氨气)。测试由于试样氧化而引起的DTA曲线(差热谱)的变化，并获得氧化诱导期(时间)0IT(min)，以评定塑料的防热老化性能。

概述

　　国NEI SHOU创专用氧化诱导期测试仪，内嵌10.1寸安卓工控电脑，无需连接电脑，一键式操作测试氧化诱导期和熔点，自动生成氧化诱导期图谱，可接打印机打印报告图谱。自动氧化诱导期操作结束后仪器蜂鸣提示，过程无需人员看管，简单高效。符合国标GB/T2951.42-2008、GB/T15065-2009、GB/T17391-1998、GB/T19466-2009,IEC60811-4-2:2004、GB/T19466.6-2009。

氧化诱导时间分析仪技术特点

1、10.1寸工业级别的宽屏触摸结构，显示信息丰富，包括设定温度，样品温度，氧气流量，氮气流量，差热信号，各种开关状态。

2、直接连接打印机打印报告图谱和溯源报告。

3、炉体结构紧凑，升降温速率任意可调。

4、改善了安装工艺，全部采用机械固定方式，WAN全避免炉体内部胶体对差热信号的污染。

5、双温度探头，保证样品温度测量的高度重复性。

6、自动切换两路气流量，切换速度快，稳定时间短。

7、标配标准样品，带自动温度校准功能。

8、内嵌工控电脑，无需连接电脑，直接测试氧化诱导期时间和熔点。

9、可用U盘导出氧化诱导期测试图谱和熔点测试图谱。

10、PC机软件自适应各种分辨率电脑屏幕；支持笔记本，台式机，支持WIN2000、XP、WIN7、WIN8、WIN10等操作系统。

11、可以设置三级账户，具有溯源记录和查找功能。

技术参数

1. DSC量程:    0～±200mW/0～±500mW

2. 温度范围: 　  室温～500℃   

3. 升温速率:   0.1～80℃/min

4. 温度分辨率:   0.01℃

5. 温度波动:   ±0.1℃

6. 温度重复性:   ±0.1℃

7. DSC噪声:    0.001mW

8. DSC解析度:   0.001mW

9. DSC精确度:   ±2%

10.DSC灵敏度:   0.001mW

11.控温方式:   升温、恒温、降温、循环（全程序自动控制）

12.曲线扫描:   升温扫描

13.气氛控制:   自动切换氮气氧气

14.显示方式:   24bit色，10.1寸 工控电脑

15.数据接口:   标准USB接口、RS232

16.参数标准:   配有标准物质，一键温度校准

符合标准：

专为塑料、橡胶行业测量氧化诱导期设计，氧化诱导期热稳定实验适用于国标GB/T17391-1998,GB/T2951.42-2008,GB/T15065-2009，GB/T19466-2009,IEC60811-4-2:2004

氧化诱导期测试曲线：

DSC-500AOIT配件一览表

贸易商可以选择中性外观：