仪器介绍

    Discovery氙灯导热仪(DXF)使用高速氙灯脉冲发射源(HSXD)。与激光导热仪相比，其价格更低、所需的维护更少，但能得到相同的测试效果。反射式光学系统充分利用了氙灯闪光管的功率，并将其传输到样品上。特殊的光学组件具有形状不规则的多面光导管，不仅能在样品上产生强度均匀的闪光，还能高效采集氙灯辐射，从而获得zui大强度。
    DXF产生的脉宽(400 μs至600 μs)比市场上的很多激光型系统都更短，但却能将来自闪光源的充足能量均匀地集中在整个样品表面。借助这一经过优化的光学设计和较宽的光谱范围，即使是直径达到25 mm的样品也能获得足够的光源照射，从而实现高精度的测量。采用大尺寸样品不仅能够减少材料不均匀而导致的误差，还能对分散较差的复合材料进行代表性测量。
    DXF可任意选择三种配置中的一种，所有这些配置都配有HSXD源，能够提供不同的测试温度范围。DXF平台适用于研究和开发项目以及生产控制。

DXF-200
    DXF-200是一款低温测试系统。基于高效的液氮冷却机制，该系统可在空气或惰性气体中，在温度范围-150 °C到200 °C内提供准确、稳定的温度控制。传统的IR检测器在低温下的灵敏度较低，为克服这一缺点，DXF-200配备了一个固态检测器，可在低温条件下实现高灵敏度的测量。

DXF-500
    DXF-500配备镍铬合金加热器和风冷式铝制外壳，能够在空气或惰性气流中进行温度范围从室温到500 °C的操作，还可达到10-2torr的真空密封。使用液氮冷却的IR检测器可测量样品的瞬态温度。该系统能通过脉冲对样品的表面温度进行高精度、快速响应的非接触式测量。

DXF-900
    EM-900配备了电阻加热炉，可在空气、惰性气体或低至10-3torr的真空中提供从室温到900 °C的操作环境。使用液氮冷却的IR检测器可测量样品的瞬态温度。该系统能通过脉冲对样品的表面温度进行高精度、快速响应的非接触式测量。