Surfix N铁基统计型高精度膜厚仪
数据统计（仅限统计型）   读数个数（ 多9999个），平均值，标准偏差， 大值和 小值
数据存储（仅限统计型）   多200个测量数值,可单独调出
数据值（仅限统计型）     上下限可调,声音报警
测量范围             0-1500µm,0 - 60mils
误差                 ±（1µm+1%读数）
分辨率               0.1µm或小于读数的2%
显示                 背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示
基体 小面积         5mmX5mm
基体 小曲率         凸面：1.5mm 凹面：5mm
基体 小厚度         F型：0.2mm ,N型： 50µm
校准                 厂家校准，零校准，校准箔校准
数据接口             红外通讯,IrDA标准
环境温度/表面温度    0-50℃/60℃ （可选配150℃）
电源                 两节1.5伏五号碱性电池
仪器尺寸             137x66x23mm
符合标准             DIN，ISO，ASTM，BS
特点：
1.德国PHYNIX公司制造
2.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
3.同屏显示统计数据
4.可存储前200测值
5.可测有色金属涂镀层
6.基体上涂层,量程1500μm
7.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
8.有红外可接PC及打印机