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为分析低电导率、低损耗材料,即使是好的频响分析仪–阻抗仪(1260A)单独使用时,已不能有效地解决上述问题,需要扩展其能力。 1296A 高阻抗测试接口,克服了这些限制给你一个频率范围*过了12个数量级的快速、精确、可重复的阻抗测量,产生有价值的可洞察各种材料包括聚合物、橡胶、木材、粘胶剂、电子元件、石腊及油类等的特性。与易于操作的软件相结合,系统能照应实验技术而让你集中精力于所得结果的分析。
1296A 增强了输力强公司的频响仪1260A、1255 去解决在测试介电材料所遭遇到的低电流及电容的能力,能够做到:
● 阻抗测量过100TΩ(10+14Ω);
● 精确测量介质损耗,tanδ<10-4;
● 频率范围:10μHz ~10MHz;
● 可施加交流信号电压及直流偏压
● 施加高达1000V电压(用外接高压源或放大器)
● 去揭示先前难于达到的一些基本数据。
1296A 高阻抗测试接口内有高精度的参考电容,或者你也可以选用一个外接的参考电容,因而提供了无比的灵活性可适合各种实验要求。支持温度及直流控制器,所配的测量软件可加以设定,这进一步扩充了材料分析工作域。
材料介电特性(非传导性)
许多材料具有低电导(高阻抗)及低损耗的性质。虽然许多呈现了这些性质的材料通常不作介电材料来考虑但它们常被统称为介电材料。分析这类材料的一种通用技术即是阻抗谱—在各种频率下测量其电学阻抗。阻抗与材料的电导率及电容率有关,而这些参数依次与材料的原子分子活性有关。当有交流电压施加于介电材料样品时,一些能量就被电容所储存而另一些则被电阻效应所消耗。
样品中所引起的电流将呈现一个相位滞后δ。在材料研究中的电容效应即是所谓的电容率(或称介电常数)ε′,而电阻效应则称之为介质损耗ε”。Tanδ即损耗系数,它等于ε”/ε′。当材料的ε′大而ε”很小时,若要精确测量则Tanδ的分辨率就变得很关键。
1296A 通过采用参比测量法来解决此问题,即先测量精密电容,该精密电容自动地取代样品;下一次测量是样品本身,如此交替地进行。这两个结果可用于获得非常精确的材料电容率值,事实上,第一次测量是用来消除外部附加的电容。
附件及样品支架 | |
5K-600K低温系统(含样品支架及温度控制器) 采用液氮或液氦来测试固体、液体或粉末材料,提供温度范围非常宽广,从5K到600K以上。为了避免样品发生破裂或膨胀,样品与制冷剂蒸汽不直接接触,而是将样品定位于一个独立的空间,通过热交换气体(通常是干燥的氦气)热交换来实现加热或者是冷却。 | 129610A |
室温固体样品支架,设计用于中温范围,测试固体材料。样品架可以采用2端或4端模式来测试高阻抗或低阻抗样品。 | 12962A |
电极连接附件(10,30,40mm直径)与12962A配套使用 | 12963A |
液体样品支架 | 12964A |
软件 | |
系统标准配置软件 | SMaRT 软件 |