射频导纳物位控制技术是一种从电容式物位控制技术发展起来的、防挂料、更可靠、更准确、适用性更广的物位控制技术，是电容物位计的技术升级，“射频导纳”中“导纳”的含义为电学中阻抗的倒数，它由阻性成分、容性成分、感性成分综合而成，而“射频”即高频，所以射频导纳技术可以理解为用高频测量导纳。高频正弦振荡器输出一个稳定的测量信号源，利用电桥原理，以精确测量安装在待测容器中的传感器上的导纳，在直接作用模式下，仪表的输出随物位的升高而增加。

对于连续测量，射频导纳技术与传统电容技术的区别除上述讲过的以外，还在测量参量的多样性、驱动三端屏蔽技术的基础上增加的两个重要的电路，这些是根据在实践中的宝贵经验改进而成的。上述技术不但解决了连接电缆屏蔽和温漂问题，也解决了垂直安装的传感器根部挂料问题。所增加的两个电路是高精度振荡器驱动器和交流鉴相采样器。

对一个强导电性物料的容器，由于物料是导电的，接地点可以被认为在探头绝缘层的表面，对变送器探头来说仅表现为一个纯电容，随着容器排料，探杆上产生挂料，而挂料是具有阻抗的。这样以前的纯电容现在变成了由电容和电阻组成的复阻抗，从而引起两个问题。

*个问题是物料本身对探头相当于一个电容，它不消耗变送器的能量，( 纯电容不耗能)，但挂料对探头等效电路中含有电阻，则挂料的阻抗会消耗能量，从而将振荡器电压拉下来，导致桥路输出改变，产生测量误差。我们在振荡器与电桥之间增加了一个驱动器，使消耗的能量得到补充，因而会稳定加在探头的振荡电压。

第二个问题是对于导电物料，探头绝缘层表面的接地点覆盖了整个物料及挂料区，使有效测量电容扩展到挂料的顶端，这样便产生挂料误差，且导电性越强误差越大。但任何物料都不*导电的。从电学角度来看，挂料层相当于一个电阻，传感元件被挂料覆盖的部分相当于一条由无数个无穷小的电容和电阻元件组成的传输线。根据数学理论，如果挂料足够长，则挂料的电容和电阻部分的阻抗和容抗数值相等，因此用交流鉴相采样器可以分别测量电容和电阻。测得的总电容相当于C 物位+C 挂料，再减去与C 挂料相等的电阻R，就可以获得物位真实值，从而排除挂料的影响。

即 C测量=C物位＋C挂料

C物位=C测量-C挂料

 =C测量- R

这些多参量的测量，是测量的基础，交流鉴相采样器是实现的手段。由于使用了上述三项技术，使得射频导纳技术在现场应用中展现出非凡的生命力。

KE510在KE500 的原有功能的基础上，增加了CPU 技术，使产品性能进行了进一步提升，采用了16 位AD 转换器，提高了测量精度和宽度。采用LCD 液晶显示屏，多种方式显示：即AD 值、百分比、和测量深/ 高度，特别是AD 值的显示，可直观的了解传感受器与物位的情况，很方便的修正传感器的零点偏移量和量程的衰减量，使仪表工作在*状态，以达到高精度测量的要求。

多种标定方式：

1：零点和满量程的标定，

2：任意两点间的标定，

3：手动输入两点间数据的标定。

由于采用了CPU 技术，仪表的智能化程度较高，仪表在运行和调试的过程中，无论是硬件出现问题或调试不当，在自检功能打开时仪表都有会错误代码提示，再根据“异常代码表”中的说明很快找出问题的所在，并得已处理。为防止调试过程中发生误操作，本仪表具有数据备份、恢复功能。

TKLWJ料位计特点：

通用性强：可测量液位及料位，可满足不同温度、压力、介质的测量要求，并可应用于腐蚀、冲击等恶劣场合。

防 挂 料：*的电路设计和传感器结构，使其测量可以不受传感受器挂料影响，无需定期清诘，避免误测量。

调试方便：采用了微处理器技术，产品调试及为方面，一键敲定，准确无误。

抗 干 扰：接触式测量，抗*力强，可克服蒸气、泡沫及搅拌对测量的影响。

免 维 护：测量过程无可动部件, 不存在机械部件损坏问题，无须维护。

TKLWJ料位计性能指标：

供    电：18~30VDC          电气接口：M20 X 1.5

输    出 :4~20mA（两线制）     安装方式：一体、分体

精    度：+0.5%            过程连接：NPT 螺纹安装（标准）

环境温度：-40 ~ 70 ℃         法兰安装（可选）

介质温度：-100 ~ 200℃         外壳防护:IP65

量    程：20 ~ 4000pF        防    爆：Exid II CT4

显示方式：百分比、深度、AD 值：

KE510射频导纳料位计选型表