ST-20掌上型方块电阻测试仪
时间：2020-05-21 阅读：804
| ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。 | ||||||||||||||
| ◆ 特点： | ||||||||||||||
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| ◆ 技术指标： | ||||||||||||||
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时间：2020-05-21 阅读：804
| ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。 | ||||||||||||||
| ◆ 特点： | ||||||||||||||
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