灵活的台式表面形貌测量设备
ContourX-200光学轮廓仪融合了表征、可定制选项和易用性等特点，可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。ContourX-200还配有分析软件Vision64®。VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能，可访问多种预编程滤镜和分析工具，用于加工的表面，薄膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学等领域的测量分析。
高性能表面计量
* 与放大倍率无关的Z轴分辨率
* 大尺寸的标准视场
* 稳定集成防震设计
高性能测量与分析功能
* 易于使用的界面，可快速准确地获得结果
* 自动化功能用于日常测量和分析
* 广泛的滤镜和分析工具选项，用于粗糙度和关键尺寸测量分析
* 满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告