颗粒统计分析测量系统 

使用飞纳台式扫描电镜的颗粒统计分析测量系统，以快速、 简便的方式实现颗粒的可视化分析。颗粒统计分析测量系统支持用户在电镜操作界面直接收集多种亚微米颗粒的形态和尺寸数据。超越光学显微镜分析，自动化的颗粒统计分析测量系统把可视化分析提高到了一个新台阶，这将在粉末设计、开发和质量控制中产生进一步的探索和创新。

柱状图、散点图和生成的图像可以选定格式导出，并生成报告。所有被测颗粒的柱状图都可以显示为数量分布或体积分布。散点图可以从颗粒属性的任意组合中绘制出来，以揭示相关性和趋势。飞纳电镜的颗粒系统支持用户获得他们需要的数据。因此，颗粒系统加快了颗粒分析速度，提高了产品质量。

1）联机或脱机分析；
2）收集颗粒的属性数据，例如当量直径、圆度、长轴短轴比、凸包度等；
3）借助超大视野拼图软件，可获得大量颗粒的分析数据；

4）先进的识别算法，用户自由选择默认设置或高级设置。