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AFM-in-Phenom XL「新」AFM-SEM原子力扫描电镜一体机
全新发布的 AFM-in-Phenom XL 「新」AFM-SEM原子力扫描电镜一体机结合了扫描电子显微镜 (SEM) 和原子力显微镜 (AFM) 的优势，实现了在同一系统中对样品进行多模态（SEM 及 AFM 形貌、元素、机械、电学、磁学）关联分析。 参考价面议 -
Phenom MAPS大面积图像拼接
Phenom MAPS 大面积图像拼接作为一款多模态多维度地图式图像自动采集及拼接软件，可自动获取大型图像数据集，并直观地组合和关联多种成像、分析模式，从而提供多尺度和多模态的表征数据。 参考价面议 -
ChemiSEM飞纳电镜彩色成像技术
飞纳电镜彩色成像技术 ChemiSEM，将 SEM 形貌观察与 EDS 成分分析相结合，让工作流程更加流畅，简化了许多材料（包括金属、陶瓷、电池、涂层、水泥和软物质材料等）的分析流程：通过彩色元素分布图与 SEM 图像的实时叠加，在成像同时提供高质量的成分定性定量信息。 参考价面议 -
Automated Image Mapping飞纳电镜全景拼图【新品】
飞纳电镜全景拼图【新品】
Automated Image Mapping
全新界面，一键扫描更便捷
扫描“形状”自定义
大样品全景观测
高清图像无错位 参考价面议 -
ChemiPhase飞纳电镜物相分析软件
适用金属和矿物研究—ChemiPhase飞纳电镜物相分析软件
更容易，更全面，更准确的物相分析 参考价面议 -
N90 纳米CTNeoscan N90 高分辨纳米CT
Neoscan 重磅推出了 N90台式纳米CT系统，将复杂的纳米断层扫描技术带到了桌面！40nm 超高分辨率，可选配集成的XRF系统，还具备出色的用户友好性，打破了以往纳米 CT 设备的使用壁垒，广泛应用于锂电、半导体、生命科学、材料科学等领域。 参考价面议 -
SEMPREP SMART离子研磨仪 SEM样品制备
离子研磨仪 SEM样品制备配备了高能量和可选的低能量氩离子枪。这款设备是用于扫描电子显微镜(SEM)和电子背散射衍射(EBSD)样品的最终加工和清洁的理想选择。 参考价面议 -
GIBTEM样品制备 精修离子束系统
TEM样品制备 精修离子束系统的低能氩离子枪（GIB） 适用于表面减薄、其他表面处理后的后处理、清洁以及去除无定形和氧 化物表面层。 当低能氩离子枪集成到扫描电镜中时 ，其作用尤为明显。有了集成离子枪 ，就可以在研究之前对样品 进行精修。 实现高质量样品的另一个重要应用是在双束 SEM / FIB 系统中进行 FIB 样品制备后，对 TEM 样品进行最 终抛光和温和的表面清洁。 参考价面议 -
飞纳电镜编程界面 (PPI)
如果用户想把飞纳电镜整合到产品工艺中或者创建一个定制的解决方案，飞纳电镜编程界面 (PPI) 是不可或（huo）缺（que）的。
基于开放标准，借助 PPI 可以控制 飞纳电镜的任意部分，包括样品台、导航相机和电子光路。PPI 借助网络与飞纳电镜交互。PPI 由自定义的 C++ 数据库构架而成，可轻松集成任意程序，与 Linux、Windows、iOS和 Mac OS X 具有很好的兼容性。 参考价面议 -
纤维统计分析测量系统
纤维统计分析测量系统 (FiberMetric) 可以自动测量从纳米到亚微米量级的纤维，数秒之内采集数百纤维的直径信息，每个数据点均经过 50 次测量取平均值。根据统计信息自动生成纤维直径分布柱状图，并导出数据文件。
相对于手动测量，纤维系统软件测量精度高，速度快效率高，操作简单，它让统计和分析大量不同直径的纤维样品成为可能 参考价面议 -
3D 粗糙度重建系统
通过 3D 粗糙度重建系统软件，飞纳台式扫描电镜能够产生二维图像和进行亚微米粗精度测量从一个 2D 平面图像里区分凹痕，划痕，毛刺等通常很闲难。3D 图像直观，能被大多数用户接受并能更好的解释样品特点。测量平均粗糙度和粗糙高度对于了解和控制生产过程很关键，相对于传统的(间接) 测量手段，3D 粗精度重建软件通过分析电镜图像，能够获得更高的精度。 参考价面议 -
颗粒统计分析测量系统
颗粒统计分析测量系统软件可以轻松获取、分析图片并生成报告。借助该软件，用户可以收集到大量亚微米颗粒的形貌和粒径数据。凭借远超光镜的放大倍数，颗粒软件全自动化的测量，可以把工业粉末的设计、研发和品管提升到一个新台阶
借助颗粒系统软件，用户可随时获得数据。因此，它加快了分析速度，并提高了产品质量 参考价面议