-
SEMPREP SMART离子研磨仪 SEM样品制备
离子研磨仪 SEM样品制备配备了高能量和可选的低能量氩离子枪。这款设备是用于扫描电子显微镜(SEM)和电子背散射衍射(EBSD)样品的最终加工和清洁的理想选择。 参考价面议 -
GIBTEM样品制备 精修离子束系统
TEM样品制备 精修离子束系统的低能氩离子枪（GIB） 适用于表面减薄、其他表面处理后的后处理、清洁以及去除无定形和氧 化物表面层。 当低能氩离子枪集成到扫描电镜中时 ，其作用尤为明显。有了集成离子枪 ，就可以在研究之前对样品 进行精修。 实现高质量样品的另一个重要应用是在双束 SEM / FIB 系统中进行 FIB 样品制备后，对 TEM 样品进行最 终抛光和温和的表面清洁。 参考价面议 -
飞纳电镜编程界面 (PPI)
如果用户想把飞纳电镜整合到产品工艺中或者创建一个定制的解决方案，飞纳电镜编程界面 (PPI) 是不可或（huo）缺（que）的。
基于开放标准，借助 PPI 可以控制 飞纳电镜的任意部分，包括样品台、导航相机和电子光路。PPI 借助网络与飞纳电镜交互。PPI 由自定义的 C++ 数据库构架而成，可轻松集成任意程序，与 Linux、Windows、iOS和 Mac OS X 具有很好的兼容性。 参考价面议 -
纤维统计分析测量系统
纤维统计分析测量系统 (FiberMetric) 可以自动测量从纳米到亚微米量级的纤维，数秒之内采集数百纤维的直径信息，每个数据点均经过 50 次测量取平均值。根据统计信息自动生成纤维直径分布柱状图，并导出数据文件。
相对于手动测量，纤维系统软件测量精度高，速度快效率高，操作简单，它让统计和分析大量不同直径的纤维样品成为可能 参考价面议 -
3D 粗糙度重建系统
通过 3D 粗糙度重建系统软件，飞纳台式扫描电镜能够产生二维图像和进行亚微米粗精度测量从一个 2D 平面图像里区分凹痕，划痕，毛刺等通常很闲难。3D 图像直观，能被大多数用户接受并能更好的解释样品特点。测量平均粗糙度和粗糙高度对于了解和控制生产过程很关键，相对于传统的(间接) 测量手段，3D 粗精度重建软件通过分析电镜图像，能够获得更高的精度。 参考价面议 -
颗粒统计分析测量系统
颗粒统计分析测量系统软件可以轻松获取、分析图片并生成报告。借助该软件，用户可以收集到大量亚微米颗粒的形貌和粒径数据。凭借远超光镜的放大倍数，颗粒软件全自动化的测量，可以把工业粉末的设计、研发和品管提升到一个新台阶
借助颗粒系统软件，用户可随时获得数据。因此，它加快了分析速度，并提高了产品质量 参考价面议 -
孔径统计分析测量系统
孔径统计分析测量系统软件可以轻松获取、分析图片并生成报告。借助该软件，用户不仅可以获取孔径的统计分布信息，同时可以获得每个孔径的属性参数，如孔径尺寸、长轴短轴比等。 参考价面议 -
真空转移多功能样品杯
真空样品杯用于保护手套箱中制备的敏感样品,并将样品转移到SEM或其他真空仪器中,避免因氧气或水分的氧化而导致样品被污染。
样品杯是专门设计用于在真空仪器中自动开启和关闭,不需要任何电子输入或人力。 参考价面议 -
扫描电镜温控样品杯
为了研究对真空度敏感的脆弱样品，飞纳和 Deben 合作研发了温控样品杯。这种样品杯可以控制样品温度，进而改变样品周围的
湿度，较大限度地降低电子束和真空度对样品的损坏。 参考价面议 -
Pharos-STEM样品杯
台式场发射 SEM-STEM 电子显微镜
可以在低加速电压下获得高衬度图像，提供材料形貌的更多细节
可以选择明场（BF）、暗场（DF）和高角度环形暗场（HAADF）成像模式 参考价面议 -
扫描电镜原位拉伸台
扫描电镜原位拉伸台在飞纳大仓版 Phenom XL 中拉伸或压缩样品 参考价面议 -
ParticleX TC全自动汽车清洁度分析系统
飞纳Phenom ParticleX全自动汽车清洁度分析系统以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础，可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计，为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。 参考价面议