P系列代表的是采用Q8-901中英文彩色触摸屏式人机界面(画面对谈式)电脑控制的可程式恒温恒湿试验箱.可选配USB曲线记录,数据储存装置.

重庆高低温试验箱，除了可仿真产品在一般气候环境温湿组合条件下(高低温操作&储存、温度循环、高温高湿、结露试验)..等，去检测产品本身的适应能力与特性是否改变，以及针对产品在(低温低湿、高温低湿、高温高湿降到低温低湿..等)环境下是否会发生龟裂、破损，另外在低湿环境中的空气静电量是一般环境的30倍以上，据统计，半导体破坏率：59%是由静电所引起的。
※ 需符合性规范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以达到间量测程序*性(含测试步骤、条件、方法)避免认知不同，并缩小量测不确定的因素范围发生。

●人机对话式触摸屏输入系统，操作简单易学，功能强大，并可于LCD画面上了解程式设定之曲线及监测过程；
●可设定程式120组，1200段，循环次数可达999次，每段时间zui大设定99小时59分；
●具有RS232通信接口，可通过PC随意控制和监视，还可选配RS485接口，USB曲线记录和数据储存装置,使用便捷；
●具有9组PID参数调节，以达到稳定、精准之控制；
●具有程式修正、清除、预约、启动、停电、记忆、按键锁定等功能；
●具有多种报警功能，故障发生同时，可通过荧幕故障显示，消除故障；
●*送风循环设计，温湿度分布均匀性佳；
●具有自动防霜装置的真空双重玻璃，可清晰观察试验箱内的试品；
●前置式自动进水装置，方便增加加湿水。

执行标准.中国国家标准分为强制性国标(GB)和推荐性国标(GB/T)
中国国家标准,GB 10586-89湿热试验箱技术条件
中国国家标准,GB 10592-89高、低温试验箱技术条件
中国国家标准,GB/T10589-1989低温试验箱技术条件
　
满足标准
电工委员会标准,IEC68-2-03_试验方法Ca_稳态湿热
电工委员会标准,IEC68-2-01_试验方法A_冷
电工委员会标准,IEC68-2-02_试验方法B_干热

美国军用标准,MIL-STD-810F-507.4 湿度
美国军用标准,MIL-STD-810F-501.4 高温
美国军用标准,MIL-STD-810F-502.4 低温
美国军用标准,MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验
美国军用标准,MIL-STD810D方法502.2
美国军用标准,MIL-STD810方法507.2程序3

日本工业标准,JIS C60068-2-3-1987 试验Ca:湿热、稳态
日本工业标准,JIS C60068-2-2-1995 试验B:干热
日本工业标准,JIS C60068-2-1-1995 试验A:低温

美国半导体行业标准,JESD22-A101-B-2004 恒定温湿度试验
美国半导体行业标准,JESD22-A103-C-2004 高温储存试验
美国半导体行业标准,JESD22-A119-2004 低温储存试验

中国国家标准,GB/T 2423.1-2001 低温
中国国家标准,GB/T 2423.2-2001 高温
中国国家标准,GB/T 2423.3-1993 恒定湿热试验方法
中国国家标准,GB2423.34-86 温湿度组合循环试验
中国国家标准,GB/T2423.4-93方法

中国国家军用环境试验设备方法,GJB150.9-8 湿热试验

◇型号规格及主要技术参数