日本日置电容测试仪HIOKI3506-10基本参数
测量参数 C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)
测量范围 C:0.001fF～15.0000μF，D: 0.00001 ～ 1.99999，Q:0.0 ～ 19999.9
基本精度 (代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
测量频率 1kHz, 1MHz
测量信号电平 500mV, 1V rms
输出电阻 1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
显示 LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
测量时间 1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz
功能 BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
电源 AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 大40VA
体积及重量 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1，使用说明书× 1
日本日置电容测试仪HIOKI3506-10测试冶具或电缆
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
根据BIN的测定区分容量
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件。 ※RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。
4端子探头L2000，DC~8MHz，1m长
4端子开尔文夹9140-10，DC~200kH，50 Ω，1 m长
镊形探头L2001，线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
测试治具9261-10，线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm
测试治具9262，DC～8 MHz, 直接连接型
SMD测试治具9263，直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
SMD测试治具9677，用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699，用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下
