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CTM048-21静电事件探测仪EM EYE SCS

探测静电放电次数，探测静电放电电压 ，可选 HBM、MM、CDM 模式

品牌：SCS（DESCO 子品牌）

 注意!

不要使用任何工具装卸传感器模块和天线，徒手即可，装卸时动作轻柔

在开机状态下不要拔插传感器模块和天线，也不要拔插 SD 卡

使用仪器时要小心轻放，避免跌落

天线不要触碰到带电体

避免硬物划伤屏幕

初次使用时，对电池进行 2 次全充-放电循环，以延长电池寿命

电池充满时间为 2 小时左右

不要使用第三方电源适配器，有可能造成仪器损坏

如果仪器死机，可用回形针顶一下仪器底部的重置键

1. 产品描述

CTM048-21静电事件探测仪EM EYE SCS是一款静电事件探测仪，可以测试静电放电的次数和放电电压。仪器具有分辨信号的能力，区分 EMI 和 ESD 信号，剔除非 ESD 相关事件。用户可以选择测试 CDM、HBM、MM 放电模型，仪器根据放电模型、探测距离和信号强度计算出大致的放电电压。

1 主机身

2 SD 内存卡（已插入主机身）

3 CTC021 探测模块（含 CTS001 天线）

4 CTC113-6FT 远端全向天线，1.8 米长缆线

5 电源适配器

6 CTC115-6FT 远端全向天线，抗高温，1.8 米长缆线

标配：○1 +○2 +○3 +○4 +○5

选配：○6

2. 部件功能及安装

备注：

 CTS001 为定向天线，只可以探测到正前方的信号

 CTC113 为全向天线，可以探测到 360 度任何方向的信号

 如果需要探测高温区域的静电放电事件，选购 CTC115 高温天线

 如果新机冲不了电，把电源适配器插上，然后顶 1 下重置键激活电池

CTC113 远端天线（全向天线），如果需要探测狭窄空间，可采用该天线

3. 触控屏操作

 开机：手指按住显示屏任意位置 3 秒

 关机：手指按住 Power/C 键 4 秒

1 弧形圆点，示意 10 个级别的放电强度，点击可设置报警阈值

2 闪电/三角符号：点击可切换符号

闪电符号，只显示静电相关放电事件（ESD）

三角符号，显示所有放电事件（包含 ESD 和 EMI）

3 探测距离：天线到被测试物/测试点的距离，点击可设置距离

4 声音符号：点击该符号可选择报警声类型及音量。铃铛符号为“叮铃”声，只有一个音量，不能调节。

点击切换成喇叭符号，这时的仪器发出类似收音机调频声，声音根据信号强度的大小变化。继续点击可以调节音量大小，在喇叭上出现叉，表示静音。

5 Power/C 按键：单击该键屏幕清零；按住该键 4 秒关机

6 Menu/F 按键：点击进入仪器基本设置界面

7 Hold 按键：点击 1 次锁定当前值；再点击 1 次标识该值为最大值；再点击 1 次取消锁定

8 时间：显示当前时间

9 电量符号：示意剩余电量；点击该符号设置日期和时间

10 内存卡符号：点击该符号，进入查看界面，可以查看测试记录

11 放电模型：点击进入设置界面，可以选择 CDM、MM、HBM 放电模型或 Raw Input（信号电平）

12 静电放电电压值

3.1. 开机界面

按住屏幕任意位置大概 3 秒后仪器开机。开机后先显示仪器固件号，如下所示：

稍后，进入待机界面。如果未插入 SD 卡或不能识别 SD 卡，出现以下提示：

无 SD 卡也可以正常使用该仪器，但测试数据不会被保存。点击黄色区域关闭提示窗口并进入待机界面。

注意！拔插 SD 卡时，仪器处于关机状态。

3.2. 仪器基本设置

点击 Menu/F 键进入基本设置界面，显示如下：

 第一行显示仪器主板编号

 第二行为屏幕亮度，点击圆盘的◄/►增加或降低亮度，默认 50%

 点击▲/▼滚动到第三行“Off time”项，设置自动关机时间（默认 5 分钟），点击◄/►改变时间，一直点击◄到 0，表示不启用自动关机功能

 点击▲/▼滚动到第四行“Local antenna”项，点击◄/►切换 Local antenna/Remote antenna

 Local antenna：采用 CTS001 定向天线时选择该项

 Remote antenna：采用 CTC113 或 CTC115 远端全向天线时选择该项

 设置完成后，点击圆盘中间的8 返回待机界面

Display Module

KW H028 Q27-F02

Firmware Rev. 2.06

Desco Industries

2015

WARNING:

No memory card.

You can add it any time.

Click here to close the

Window.

Hardware Setup

Power

C 08:30

S/N 16065 CRC=00A7A9C9

Brightness: 50%

Off time: 5 min

Local antenna

仪器基本设置界面

3.3. 设置日期和时间

点击电池符号进入日期和时间设置界面，显示如下：

 第一行设置时间，点击圆盘▲/▼改变数值，点击◄/►移动光标向前或向后

 第二行设置日期，格式为：月/日/年（08/15/16 表示 2016 年 8 月 15 日）

 第三行选择 12/24 小时制，点击▲/▼选择 12H 或 24H

 设置完成后，点击圆盘中间的8 返回待机界面

4. 测试静电放电（ESD）事件

4.1. 设置探测距离和放电模型

仪器采用专LI的算法，根据探测距离、获得信号强度和放电模型计算出大致的放电电压。用户需要设置探测距离和放电模型。

探测距离：

天线距离被测试物/测试点的距离，设置范围 0.5~15.0 英寸（1.3~38.1cm）

注意：实际测试时，天线距离被测试物/测试点应该为所设置的距离。

放电模型：

² CDM：器件本身带有静电，当接触到接地导体或其他电位导体时发生静电放电

² MM：带静电的设备或工具接触到接地的器件，发生静电放电

² HBM：带静电的人体接触到接地的器件，发生静电放电

² Raw Input：天线所获得的实际信号强度（电平信号），该读数用于仪器校准

Time-Date Setup

Power

C 08:30

Time: 14:06

Date: 08/15/16

Mode: 24 H

设置日期和时间

点击屏幕的距离或放电模型方框，进入设置界面，屏幕显示如下：

² 点击圆盘▲/▼设置探测距离，选择范围 0.5~15.0 英寸（1.3cm~38.1cm），0.5 英寸以下，每点击 1 次

递增 0.5 英寸；10 英寸以上，每点击 1 次递增 1 英寸。

² 点击圆盘◄/►设置放电模型，可以选择 CDM、MM、HBM、Raw Input

² 设置完成后，点击圆盘中间的8 返回待机界面

4.2. 报警阈值设置

点击弧形圆点，进入设置界面。（备注：仪器内存只记录超过阈值的静电放电事件）

² 点击圆盘◄/►设置报警阈值，范围 000~990V：

l 0~10V 按 1V 增幅设置

l 10~990V 按 10V 增幅设置

² 如果选择了“Raw Input”测试模式，可以选择 1~1500mV

² 设置完成后，点击圆盘中间的8 返回待机界面

ESD Events

Power

C 08:30

Distance: 4.0”10.2cm

Model: CDM

ESD Events

Power

C 08:30

000 V

设置距离和模式

设置报警阈值

按以上设置完成后，即可开始测试。测试时屏幕出现闪电符号，表示开启了信号屏蔽功能，仪器剔除了非ESD 放电信号，只显示静电放电事件。点击该符号切换到全信号模式，这时出现三角形符号，表示仪器显示所有探测到的信号，包括 EMI 背景噪音和 ESD 放电信号。

测试时，屏幕显示的电压值为估算的放电电压，数字为超过阈值的放电次数。最高可以记录 32767 次放电次数。点击 Power/C 键可以清零放电次数，重新累计。

4.3. 按照 ANSI/ESD SP17.1 规范进行静电放电事件风险评估流程

备注：

² 首先确定静电敏感器件是否有导体部位接触或非常接近导电的物体，例如金属-金属接触，如果没有，通常不会有静电放电风险，无需进一步进行风险评估。

² 空载测试：在制程中不要放入静电敏感器件，记录下测到的静电放电现象

² 放入静电敏感器件后，如果没有探测到更多的放电现象，表示探测到的是干扰信号/背景噪音，而非放入静电敏感器件后造成的静电放电，评估结束-低风险

² 如果探测到更多的放电现象，根据测到的放电电压值和器件的静电敏感阀值来评估风险，如果放电电压值超过器件所列明的阀值，采取措施消除危险，例如采取接地、离子中和等方式

² 采取消除风险的措施后，再次进行评估

○1 是否和静电敏感器件直接

接触或距离非常近

评估结束-低风险

○2 进行空载测试

○3 把静电敏感器件放入后测

试，对比测试结果

○4 是否测到更多的

静电放电事件？

○5 评估结束-低风险

否

否

○6 评估风险程度

消除风险

按 2~5 步骤再次评估

5. 数据查看和处理

5.1. 安装 SD 卡

1）把 SD 卡插入仪器，注意方向，有字的面朝上，有金属触脚的在里面。注意！一定要在仪器关机的情况下拔插 SD 卡。

2）插好卡后，仪器开机，仪器会对新卡或空卡进行初始化。然后进入待机界面，在屏幕右中可以看见 SD卡图标，表示成功。如果不显示 SD 卡图标或有红叉，表示该卡不兼容。

3）所有测试记录会保存在 SD 卡上。注：只有超过报警阈值的值才会被记录下来。

在待机界面，点击 SD 卡符号，进入查看界面。点击圆盘的▲/▼和◄/►可以上/下和左/右滚动查看。

5.2. 数据处理

向供应商获取 EMEYE_Converter.zip 软件，解压后双击 setup.exe 安装，按指示进行安装，最后点击 Close完成。EM EYE 操作手册/APS-21 9

把 SD 卡从仪器中取出，放入配套的卡托，插到电脑的卡槽上

1) 打开安装的 Em Eye File Converter Rev.5 软件（在桌面有快捷图标）

2) 点击 File > Open Ctrl+O，选择 SD 卡上的 ESD3M0003.esd 文件

3) 打开后可以看见所有的测试记录，每条表示一个时间点的测试记录。例如下图第一行，表示 2016 年 8月 29 日 22 点 39 分 17 秒的测试记录，共有 7 个 ESD 事件发生（报警阈值为 370V）

4) 点击任一条测试记录，然后点击 File > Save 保存。例如下图，保存在 C 盘下的“ESD 测试”文件夹

5) 用 EXCEL 打开该所保存的文件可以显示详细的测试数据

例如上图，打开所保存的 2016 年 8 月 29 日 22 点 39 分 17 秒的测试记录，可以看见详细的 7 个 ESD 事件。

备注：当 SD 卡满后，把 SD 卡插入电脑，然后清空该卡即可。

重新把空卡插入仪器后，仪器会自动初始化。

6. 故障信息

屏幕提示 解决方法

ERROR: Sensor is disconnected. Click here to turn device off.

未装上探测模块就开机。先关机，装上探测模块后再开机使用。

ERROR:Card was removed. Data may be

lost and card could be damaged.

Click here to close the window.

在开机状态下，拔出了 SD 卡，可能会导致数据丢失和SD 卡损坏。点击关闭该提示，关机后插回 SD 卡。

WARNING:No memory card. You can add it at any time.

Click here to close the window.

仪器未插入 SD 卡，可以在任何时候插入 SD 卡。点击关闭该提示。

PREPARING CARD FOR RECORDING!!!

DO NOT REMOVE!!! PLEASE WAIT. 正在初始化 SD 卡，不要拔出 SD 卡。

ERROR: Invalid memory card. Format or replace it.

Click here to close the window.

SD 卡格式不兼容，先在电脑上格式化成 FAT32 格式再使用。

ERROR!!! STACK OVERFLOWED.

Click here to turn device off.

出现严重故障。需要重置仪器，如果问题未解决，必需返回原厂维修。

备注：当仪器出现死屏或严重故障时，用回形针顶一下仪器底部的重置孔，仪器恢复到出厂状态，通常能解决故障。

备注：仪器长期闲置，电池可能耗尽电量。这时插上电源适配器，用回形针顶一下仪器底部的重置孔，电池重新被激活，仪器开始充电。

7. 仪器校准

测试静电放电电压，测试方法是获取放电信号的强度然后采用专有算法计算出放电电压值。

原厂校准书仅显示仪器能否正确接收到放电信号，校准方法是采用脉冲电源输出 100mV、150mV、1.0V、1.5V 信号，然后验证仪器接收到的信号强度（dBμV）是否准确。

疑问一：如何在第三方进行校准？

答：不能在第三方机构进行校准，因为原厂对仪器的天线数据（电容、阻抗）等均BU公开。第三方无法对仪器能否接收正确放电信号进行验证。即使第三方可以验证仪器是否准确获取放电信号，后续也无法根据信号强度计算出放电电压值，该算法为原厂专有算法，BU公开。

所以仪器必需返回原厂进行校准，亚洲用户可以返回 DESCO 日本公司进行校准。

疑问二：该仪器测试放电电压，但为什么没有测试精度参数？

答：静电放电电压和实际物体的电容有关，仪器无法事先知道被测物体的电容，只能采取一个经验值（根据实验取一个能兼顾大多数器件的经验值）来计算放电电压。所以仪器的读数是接近实际放电电压值，而没有一个定量的测试精度。

疑问三：如何直观地验证仪器的测试准确度？

答：下图显示了静电模拟器的放电过程，仪器实测读数接近放电电压。用户可以用静电放电枪做这类验证。