半导体高低温老化试验箱PR电子芯片恒温恒湿测试设备
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半导体高低温老化试验箱PR电子芯片恒温恒湿测试设备

电子芯片恒温恒湿设备半导体高低温老化试验箱PR电子芯片恒温恒湿测试设备

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2016-09-08 15:11:02
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广东宏展科技有限公司

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产品简介

半导体高低温老化试验箱PR电子芯片恒温恒湿测试设备是广泛用于机电、化工、塑料、轻工等行业及科研单位对各种产品、试品进行烘培、干燥、固化、热处理及其它方便的加热。该系列产品广泛用于航天、航空、信息、电子、仪器仪表等行业电工产品、材料、零部件设备的寒冷试验及低温储存。

详细介绍

半导体高低温老化试验箱PR电子芯片恒温恒湿测试设备

简介:高低温交变湿热试验箱,用于电工、电子、航天、航空、仪器仪表等行业作、材料、零部件设备等的加速湿热试验,交变温度试验,以便对试品在给定的环境条件下的行为性能作出评价,提高产品的可靠性。我司生产研发的高低温交变湿热试验箱是国家高新技术产品、*,质量好,价格优,免费保养,十几年的生产经验,技术成熟,可根据需求订做,欢迎采购。

*设备特点
高强度、高可靠性的结构设计-
 确保了设备的高可靠性;
工作室材料为SUS304不锈钢-
 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;
超细玻璃纤维绝热材料-
 确保将热量散失减到zui小;
表面喷塑处理
  保证设备的持久防腐功能和外观寿命;
高温硅橡胶密封条
  确保了设备大门的高密封性;
多种可选功能(小车、测试孔、记录仪、强制换气等)保证了用户多种功能和测试的需要;
大门与加热器/风机互锁功能(可选),可以将物料频繁进出对温场的减到zui小;

半导体高低温老化试验箱PR电子芯片恒温恒湿测试设备

精确采样測定週期

0.6秒(溫、濕度各0.3秒),仪表的快速反映。

*程式組容量

250 PATTERN(組)/12500 STEP(段)/ 0~520H59M /STEP (段)时间可调。

超长的定值时间设定

0~99999H59M 可调。

超长的循环次數设定

每組程式可設1~32000次(小循环可設1~32000次)。

超大的触控屏幕

照片级全真彩7‘ 88(H)×155(W)mm。

数据储存

PV實際值/SV設定值按采样周期记录保存。
1. 曲線,历史数据可由USB按日期选择拷贝。
2. 按60秒采样,可记录保存120天数据及曲线。

通信機能

1. 标配USB接口下载曲线及数据。
2. 标配R-232C电脑接口。
3. 因特网联机界面(需订货时注明)。

附加功能

预约起动设定。
運轉预计结束時間表示,了解大概结束时间。
通電時間積算,运行時間積算。
程式结束规划(程式连接,转到定值,停机等)。

节能控制功能

全新冷媒需求量算法,有效降低冷热互耗,同比节约电力30%。

●人机对话式触摸屏输入系统,操作简单易学,功能强大,并可于LCD画面上了解程式设定之曲线及监测过程;

●可设定程式120组,1200段,循环次数可达999次,每段时间zui大设定99小时59分;

●具有RS232通信接口,可通过PC随意控制和监视,还可选配RS485接口,USB曲线记录和数据储存装置,使用便捷;

●具有9组PID参数调节,以达到稳定、精准之控制;

●具有程式修正、清除、预约、启动、停电、记忆、按键锁定等功能;

●具有多种报警功能,故障发生同时,可通过荧幕故障显示,消除故障;

●*送风循环设计,温湿度分布均匀性佳;

●具有自动防霜装置的真空双重玻璃,可清晰观察试验箱内的试品;

●前置式自动进水装置,方便增加加湿水。 

 

性能

温度范围

-20→+150℃

-40→+150℃

-70→+150℃

 

湿度范围

20%~98%(RH)

 

温度波动度

± 0.5℃

 

温度偏差

± 0.2℃

 

湿度偏差

±3.0%RH(>75%RH),±5.0%RH(≤75%RH)

 

升温时间

-20→+150℃

-40→+150℃

-70→+150℃

 

 

≤60min

 

降温时间

+20→-20℃

+20→-40℃

+20→-70℃

 

 

≤45min

≤60min

≤80min

半导体高低温老化试验箱冷冻系统及加热系统

1.欧美*省电型高效率压缩机.(气冷式散热方式)

2.波浪状鳍片型强迫送风冷凝器.

3.斜率式FIN-TUBE蒸发器,配合鳍片多段式自动负载容量调整.

4.*电磁阀;干燥过滤器等冷冻组件.

5.内螺旋式K-TYPE冷媒铜管.

6.U-TYPE鳍片式高速电热管.

7.加温、降温系统*独立.

8.采用环保冷媒HCFC R-404 R-23环保冷媒

电子芯片恒温恒湿测试设备加湿及除湿系统

1.采用电子并位方式微动加湿系统.

2.加湿筒采整座不锈钢制成,并附有水位观测窗口.

3.采蒸发器盘管露点温度(ADP)层流接触除湿方式.

4.附过热、溢流双重保护装置.

5.加湿、除湿系统*独立.

五、送风循环系统

1.采多翼离心式循环风扇

2.DRAW THROW送风方式;水平扩散垂直热交换弧形循环.

3.上方出风口及护网回风口.

半导体高低温老化试验箱控制系统

采用韩制原装触控式彩色液晶银幕CLCD微电脑程控;采智能型微电脑PID+SSR/SCR可自动正逆双向同步输出,控制精度稳定精确,且内含*之斜率控制逻辑,可*客户测试需求.

电子芯片恒温恒湿测试设备安全保护系统

1.附有无熔丝保护开关.

2.*道电子式温度超温安全保护装置.

3.第二道机械式超温安全保护装置.

4.冷冻压缩机过负载保护装置.

5.缺水保护装置及加湿筒低水位安全检知保护装置.

6.电机电流过载保护装置.

7.自我检知15点故障保护及显示.

8.停电记忆保护装置.

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