EMI-NF-PROBE近场探头

EMI-NF-PROBE近场探头

 Tektronix  近场探头

EMI-NF-探头为TEKBOX TBPS01。这套磁场和电场探头用于辐射发射EMC预符合性测量。探针用于近场电磁辐射源，用于定位和识别电子组件构件内的潜在干扰源。这种探测器的作用类似于宽频带天线，从元件、PCB轨迹、外壳开口或缝隙以及任何其他可能发射射频的部件中接收辐射发射。

超薄设计，便于在紧密间隔的组件之间进行良好的访问

屏蔽回路，避免拾取共模噪声；对人手不敏感

频率范围高达6 GHz

用橡胶涂层绝缘

探针通常连接到频谱分析仪

EMI近场探头是主要用于查找干扰源，判定干扰产生原因的高性价比近场探头。可用来检测器件表面的磁场方向以及强度；检测磁场耦合的通道，从而调整连接器位置；检测模块附近的磁场环境。为了降低干扰，寻找到真正的干扰源或者是其传播的途径是非常有必要的，通过近场探头测量可以很方便地实现定位功能

产品性能：

EMI近场探头适合任何频谱分析仪、示波器或EMI测试接收机，频率范围超宽，满足您现在以及未来的测量需求。

产品特点：

覆盖有绝缘层的安全措施；

非常方便的设计包括涂橡胶握把；

非常小的尺寸，完善的干扰源定位；

可以由一个信号源驱动产生的电磁敏感性测试领域；

内容

EMC探头组由H20、H10、H5、E5、75 cm SMB至SMA电缆、测量图组成