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材料中的很多成份,以不同角度入射,得到的透射率和反射率会因入射角度变化而变化。通过测量不同角度入射,研究材料的zui敏感角度,为进一步研究或设计测量仪器提供依据。
RTM-VA全角度光谱测量台可以搭配光谱仪、光源及其他测量附件,可以对材料进行不同角度入射和接收的光谱测量,适用于各种表面平整的样品光谱测量。采用电控独立双轴设计,高精度步进电机控制发射端和接收端的角度,角分辨率达0.05°。光谱范围220-2500nm(可选择不同配置),电脑软件选择发射端和接收端的角度,实现快速的光谱测量,能够满足透射/反射/散射/荧光/辐射等多种模式的全角度光谱测量应用的需求。
入射端带有一个旋转偏振片架和一个滤波片架,可以放置一个偏振片和滤波片。接收端带有一个滤波片架,可以放置一个滤波片、偏振片或者波片。各种波长的范围的偏振片、滤波片和波片可供选择。
应用领域
主要特点
光谱角度测量模式
反射测量(上反射/下反射)模式 | 透射测量模式 |
散射/荧光测量械 | 辐射测量模式 |
参数指标
参数指标 | ||
参数/型号 | RTM-VA | RTM-VAS |
光谱范围 | 360-2500nm | 360-2500nm |
光源 | 含钨灯光源 | 含钨灯光源和积分球 |
光斑大小 | zui小3mm | zui小5mm |
入射角范围 | 0-180° | 0-180° |
接收角范围 | 0-360° | 0-180° |
角度分辨率 | 0.05° | |
测量对象 | 平面样品、发光样品 | 镜面样品、曲面样品 |
应用 | 反射、透射、散射、荧光测量 | 反射率、透过率测量 |
可选配件
紫外扩展模块 | |
RTM-UV | 250-2500NM |
光谱仪 | |
USB2000+ | 350-1000nm |
QEPRO | 350-1100nm |
NIRQUEST | 900-2500nm |
光源 | |
DH-2000 | 220-2500nm |
偏振片 | |
PLine-UV | |
PLine-VIS-A | 400-700nm |
PLine-VIS-B | 600-1100nm |
PLine-NIR-A | 1050-1700nm |