0.1μm电子半导体生产环境中的尘埃粒子检测
0.1μm电子半导体生产环境中的尘埃粒子检测
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0.1μm电子半导体生产环境中的尘埃粒子检测

0.1μm电子半导体生产环境中的尘埃粒子检测

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-08-20 15:36:17
185
属性:
产地类别:进口;价格区间:面议;流量范围:小流量;仪器种类:实验室;应用领域:医疗卫生,环保,食品,化工,生物产业;
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产品属性
产地类别
进口
价格区间
面议
流量范围
小流量
仪器种类
实验室
应用领域
医疗卫生,环保,食品,化工,生物产业
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沈阳加野科学仪器有限公司

沈阳加野科学仪器有限公司

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产品简介

0.1μm电子半导体生产环境中的尘埃粒子检测
重视可视性,大画面,触摸屏显示器,可在附带软件上显示测试数据
双通道: 0.1μm 0.3μm
额定流量:2.83umin
通过实现超小型化设计,使粒子计数器嵌入装置设备成为可
0.1 um测量
4.3英寸彩色液晶
标配RS-485,Ethernet,USB
小型化!重量大幅度轻量化
以往的尺寸很难嵌入组装在半导体制造等装置中

详细介绍

0.1μm电子半导体生产环境中的尘埃粒子检测

0.1μm电子半导体生产环境中的尘埃粒子检测


应用范围

作为传感器嵌入到设备装置中

洁净室的清洁度管理

高清洁度区域的管理


重视可视性,大画面,触摸屏显示器,可在附带软件上显示测试数据

双通道: 0.1μm 0.3μm

额定流量:2.83umin

通过实现超小型化设计,使粒子计数器嵌入装置设备成为可

0.1 um测量

4.3英寸彩色液晶

标配RS-485,Ethernet,USB

小型化!重量大幅度轻量化

以往的尺寸很难嵌入组装在半导体制造等装置中,

本产品通过压倒性的小型化,使传感器嵌入设备中使用变为简便易行。


0.1μm电子半导体生产环境中的尘埃粒子检测

   名

尘埃粒子计数器

   号

3950-00

粒子测量

测试方法

光散射法

粒径通道

2粒径(0.1、0.3μm)

额定流量

0.1CFM(2.83L/分)、精度±5%、(符合JIS B9921和ISO21501-4)

测量时间

6秒~99分59秒(1次测量时间)

间隔时间

6秒~99分59秒(测量周期)

采样次数

1~999次 或 连续测试

地点设定

99个地点

测量方式

重复、单次、连续、计算

测量数据显示时间

1~10秒

测量数据显示

累计值∑ 差分值△及柱形图

最大可测浓度

10,000,000个/m³

计数效率

50±20%(相对于最小可测粒径附近的PSL粒子)
100±10%(相对于最小可测粒径的1.5倍~2倍的PSL粒子)
(符合JIS B9921 和 ISO21501-4)

计 数

<1个/35min

粒径分辨率

15%以下(相对0.3μm的PSL粒子)
(符合JIS B9921 和 ISO21501-4)

   源

内置泵

显示器

4.3英寸彩色液晶 触摸屏

通迅功能

   体

USB(Host用于打印机、USB存储;Device用于与PC链接)
Ethernet、RS485(9600、19200、38400 baud)

数据存储

   体

内存

数量、格式

最大10,000个、CSV格式

显示语言

英文、日语

  源

AC100~240V

使用环境

   体

15~35℃、0~85%RH (无结露)

外形尺寸

W150 X H163 X D228 mm

   量

3.4kg

0.1μm电子半导体生产环境中的尘埃粒子检测










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