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SGW-X4B显微熔点仪

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产品简介

上海子期实验设备有限公司www.ziqish.com专业销售SGW-X4B 显微熔点仪，SGW-X4B 熔点测量范围：室温～320℃，温度显示Z小值：0.1℃；测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片盖玻片法(热台法)测定。

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SGW-X4B 显微熔点仪产品描述：

测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片盖玻片法（热台法）测定。

SGW-X4B 显微熔点仪产品参数：

1、熔点测量范围：室温～320℃

2、测量重复性：±1℃（在<200℃时）；±2℃（200℃～320℃）

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