液晶空间光调制器相位调制的色散特性研究
时间：2012-11-19 阅读：1737
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摘要：提出用椭偏仪法测试了自制液晶空间光调制器（LCSLM）的相位调制色散特性．椭偏仪法具有光路简单单，结果准确，测试自动化等优点，相比单色光源干涉仪测量方法更加简单实用．结果表明，在短波长（450 nm）处，LCSI M 的相位调制能力为1．54λ（ λ=450 nm）．在长波长（800 nm）处,LCSLM 的相位调制能力为0．70λ（ λ=800 nm），与理论分析的色散特性基本一致．
关键词：液晶；空间光调制器；色散；椭偏仪
中图分类号：0753；TP217 文献标识码：A 文章编号：1004—4213（2007）06—1065 3
关键词：液晶；空间光调制器；色散；椭偏仪
中图分类号：0753；TP217 文献标识码：A 文章编号：1004—4213（2007）06—1065 3
0 引言
在不同波长和电压作用下，液晶空间光调制器具有不同的相位值．这种色散特性可以应用在色散补偿，白光波前校正，光通信等许多领域，具有十分广泛的应用前景．目前，对液晶色散特性的研究主要是对液晶双折射△n和光强的研究，但没有考虑到施加电压后的相位色散特性．大多数相位都是通过干涉仪进行测量，所以相位都是在单波长下测得的．干涉测量光路复杂，测试手段麻烦，而且对于色散相位测量需要通过引入分光仪产生单色光源，再对不同波长下的单色光源分别测量．本文提出用光谱型椭偏仪测量法进行测量，该方法具有光路简单，结果准确，测试自动化等优点．利用光谱型椭偏仪实现了液晶光调制器在450 nm 到800 nm 波长范围内的相位测量．
在不同波长和电压作用下，液晶空间光调制器具有不同的相位值．这种色散特性可以应用在色散补偿，白光波前校正，光通信等许多领域，具有十分广泛的应用前景．目前，对液晶色散特性的研究主要是对液晶双折射△n和光强的研究，但没有考虑到施加电压后的相位色散特性．大多数相位都是通过干涉仪进行测量，所以相位都是在单波长下测得的．干涉测量光路复杂，测试手段麻烦，而且对于色散相位测量需要通过引入分光仪产生单色光源，再对不同波长下的单色光源分别测量．本文提出用光谱型椭偏仪测量法进行测量，该方法具有光路简单，结果准确，测试自动化等优点．利用光谱型椭偏仪实现了液晶光调制器在450 nm 到800 nm 波长范围内的相位测量．