详细介绍

奥林巴斯OLS5100-LAF激光共焦显微镜

LEXT™ OLS5100 3D激光扫描显微镜

用于材料分析的激光显微镜

更智能的工作流程，更快速的实验设计

适用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光显微镜将测量精度和光学性能与智能工具相结合，让显微镜更加方便使用。通过快速高效精确测量亚微米级形状和表面粗糙度的可靠数据简化您的工作流程。

奥林巴斯OLS5100-LAF激光共焦显微镜

保证测量准确度

LEXT显微镜物镜可提供高度准确的测量数据。与智能物镜选择助手（Smart Lens Advisor）搭配使用，就可获得可靠的高精度数据。

有保证的测量准确度^*
奥林巴斯享誉世界的光学器件能够以更低像差在整个视场中捕捉样品的真实形貌
智能物镜选择助手（Smart Lens Advisor）还可帮助您选择合适的物镜进行粗糙度测量

OLS5100-LAF激光共焦显微镜主机

型号		OLS5100-SAF	OLS5100-SMF	OLS5100-LAF	OLS5100-EAF
总倍率		54x–17,280x
视场		16 µm–5,120 µm
测量原理	光学系统	反射式共焦激光扫描激光显微镜反射式共焦激光扫描激光-DIC显微镜颜色彩色DIC
	光接收元件	激光：光电倍增管（2通道）彩色：CMOS彩色相机
高度测量	显示分辨率	0.5 nm
	动态范围	16位
	重复性σn _-1^{1 2 *5}	5X：0.45 μm, 10X：0.1 μm, 20X : 0.03 μm, 50X : 0.012 μm, 100X : 0.012 μm
	准确度^{1 3 *5}	0.15 + L / 100μm（L：测量长度[μm]）
	拼接图像准确度^{1 3 *5}	10X：5.0+L/100 μm, 20X 或更高倍率1.0+L/100 μm (L: 拼接长度[μm])
	测量噪声（Sq噪声）^{1 4 *5}	1 nm（典型值）
宽度测量	显示分辨率	1 nm
	重复性3σ_n-1 ^{1 2 *5}	5X: 0.45 µm, 10X: 0.1 µm, 20X: 0.03 µm, 50X: 0.012 µm, 100X: 0.012 µm
	准确度^{1 3 *5}	测量值+/- 1.5%
	拼接图像准确度^{1 3 *5}	10X : 24+0.5L μm, 20X : 15+0.5L μm, 50X : 9+0.5L μm, 100X : 7+0.5L μm (L: 拼接长度[mm]）
单次测量时最大测量点数量		4096 × 4096像素
最大测量点数量		3600万像素
XY载物台配置	长度测量模块	•	不适用	不适用	•
	工作范围	100 × 100 mm (3.9 × 3.9 in.) 电动	100 × 100 mm (3.9 × 3.9 in.) 手动	300 × 300 mm (11.8 × 11.8 in.) 电动	100 × 100 mm (3.9 × 3.9 in.) 电动
最大样品高度		100 × 100 mm (3.9 × 3.9 in.)	30 mm (1.2 in.)	30 mm (1.2 in.)	210 mm (8.3 in.)
激光光源	波长	405 nm
	最大输出	0.95 mW
	激光等级	2级（IEC60825-1：2007，IEC60825-1：2014）
彩色光源		白光LED
电气功率		240 W	240 W	278 W	240 W
质量	显微镜主体	约 31 kg	约 32 kg	约 50 kg	约 43 kg
	控制箱	约 12 kg

*1 在ISO554(1976)、JIS Z-8703(1983)规定的恒温恒湿环境下使用时提供保证（温度：20?C±1?C，湿度：50％±10%），如ISO554（1976）、JIS Z-8703（1983）所规定。
*2 在使用MPLAPON LEXT系列物镜测量时倍率20x或更高。
*3 在使用专用LEXT物镜测量时。
*4使用MPLAPON100XLEXT物镜测量时的典型值。
*5 基于奥林巴斯认证系统下的保证。

产品简介

详细介绍

用于材料分析的激光显微镜

更智能的工作流程，更快速的实验设计

保证测量准确度

OLS5100-LAF激光共焦显微镜主机

常用功能直达