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最小电感值≥0.1μH
电压补偿功能
高速脉冲取样率200MHz/9bits
崩溃电压测试
稳定极速测试：10次/秒
可程序非破坏性脉冲电压测试
仪器内建可储存128组测试波形
USB Host快速存取测试画面
五种波形比对，检测绕线元件层间短路不良
全新一代彩色显示屏幕速度更快的7750线圈层间短路测试仪，提供1200V/5200V/10000V脉冲电压输出，200MHz/9bits高速取样技术提供多种比对模式，包含总面积比对、面积差比对、电晕数比对、颤抖数比对、二阶微分比对与波形比对模式，测试速度高达10次/秒，上自动线是最佳的选择。针对小感量可选型7750-1层间短路测试仪搭载FX-IM0001四线式SMD元件测试治具，支援电压补偿功能，避免配线引起的等效电感引起测试电压误差过大，为小电感产品把关质量。
Model | 7750-5E | 7750-5H | 7750-5S | 7750-1S | 7750-10S |
波形采样率 | 50MHz | 100MHz | 200MHz | ||
脉冲电压输出 | 100V-5200V | 100V-5200V | 100V-5200V | 10V-1200V | 200V-10000V |
量测最小电感量 | ≥ 1μH | ≥ 0.1μH | ≥ 20μH | ||
量测时间 | 10次/秒 | ||||
崩溃电压-BDV | - | - | ● | ● | ● |
支援LAN界面 | - | - | ● | ● | ● |
波形分析 | |||||
总面积比对 | ● | ● | ● | ● | ● |
面积差比对 | ● | ● | ● | ● | ● |
二阶微分比对 | - | ● | ● | ● | ● |
电晕数比对 | ● | ● | ● | ● | ● |
颤抖数比对 | ● | ● | ● | ● | ● |
波形比对 | ● | ● | ● | ● | ● |
量测规格
型号 | 7750 |
量测速度 | 10次/秒 |
施加脉冲数 | 最大32 |
波形采样 | 200MHz/9 bit |
输入阻抗 | 20MΩ |
崩溃电压测试 | ● |
统计功能 | 支援量测统计功能 |
波形比对模式 | |
总面积比对 AREA | 将谐振波所涵盖之所有面积加总称之为「总面积」 进行待测线圈波形面积比对，当待测物发生层间短路时，由于线圈能量损耗增加，谐振阻尼系数变大，谐振振幅会变小，总面积跟着变小，是检查层间短路最基本的参数。 以%表示，判定能量损耗差异性。 |
面积差比对 DIFF | 将标准波与待测波之相异处加总则称为「面积差」 当待测物发生匝间短路时，电感变小（类似变压器次极圈短路时，初极圈电感会变小），造成后段波形振荡频率发生变化，谐振波形相位改变，面积差随之改变。 藉此比较电感量的差异性。 |
二阶微分 LAPLACIAN | 线圈绝缘质量不良在高压冲击下产生放电，引起振荡波形快速变化，透过7750 二阶微分演算方式进行比对。 用于检测焊接不良导致绝缘性能降低的质量问题。 |
电晕数比对 CORANA | 绕组线圈于高压脉冲测试中，自身绝缘系统损坏而产生放电，透过波形显示放电曲线中出现电晕的现象，此功能可统计电晕发生的次数根据其偏差程度进行判定。 检测线圈内部绝缘质量是否有放电现象。 |
波形比对 COMP | 将标准波设定一可容许之波形范围，此项目可同时判断谐 |
颤抖数比对 FLUT | 当绕组线圈有发生匝间放电的现象时，波形将产生颤抖， |
一般规格
Remote输入信号 | START/STOP |
Remote输出信号 | PASS/FAIL/TEST/READ/HV ON |
安全开关 | 设置INTER LOCK功能，测试时需将安全开关进行短路，机台方能输出脉冲电压 |
内建存储 | 128组 |
电源 | 电压：100Vac-240Vac |
频率：47-63Hz | |
消耗功率 | 45VA |
操作环境 | 温度：0℃-40℃ |
湿度：20-80%RH | |
外观尺寸 | 430x132x370 mm (W*H*D) |
重量 | 7Kg |
界面 | USB Host/Device、RS-232、Remote、LAN GPIB选配 |
液晶荧幕 | 7吋TFT 彩色显示(800*480) |
