J200飞秒激光剥蚀进样系统用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式，包括光栅线状、曲线、随机点、任意尺寸网格或预先编制的模式， 长激光脉冲系统产生的样品颗粒大（常大于数微米），驻留在输送管中，导致运输效率低，并且降低了分析的灵敏度，用户可*依靠J200系统输送高质量的样品颗粒到ICP-MS系统，用户简单、方便地操作硬件部件。只需简单点击tab键，用户即可检查飞秒激光、气流系统、光模块、3-D操作台、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态。

设备特点：
1、系统还可以对植物叶片进行深度的分析；
2、可编制成组，自动顺序执行，使测量工作高度自动化；
3、用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式；
4、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态；
5、用户可将多个硬件部件运行命令集合，并按时间顺序排列；
6、易浏览不同的样品区域，设立灵活的采样方式；
7、连续可调光学衰减器，集成激光能量监测单元。

J200飞秒激光剥蚀进样系统是ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景，系统通过非热过程，施加超高激光辐射剥蚀样品，产生的颗粒能在ICP源*消解，确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号，J200LA-fs剥蚀均匀一致，剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性，无需高度匹配的标准物质，也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量。