M2LR-00-000-0美国GE露点仪

M2LR-00-000-0探头M2LR-00-000-0美国GE露点仪

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2016-09-08 06:04:23
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产品简介

M2LR-00-000-0美国GE露点仪
M2LR-00-000-0

详细介绍

M2LR-00-000-0美国GE露点仪

M2LR探头

库存现货:  

露点仪 
型号:M2LR-00-000-0  
仪器资料:  
性能与优点  
·本安  
·出众的灵敏性,响应速度和标定稳定性  
·可选温度传感器  
·NIST可溯源标定  
·适用于与采用系统配合使用的应用  
·真正的湿度探头  
·超宽测量范围  
该探头具有的氧化层薄膜厚度使得其显示真正的湿度,而不是相对湿度响应,同时使得温度与滞后的影响降至zui低。使用M系列氧化铝水份探头再气体与液体中直接测量水的蒸汽压非常便利与有效。该探头经过一系列特殊工艺阳极电镀使铝基表面产生多孔氧化层并形成极薄金镀层,铝基与金镀层形成两个电极,整个结构成为一个氧化铝电容。水汽平衡分布于氧化铝孔隙壁上,每个孔隙壁的电阻值提供了与水蒸汽压成函数关系的阻抗,可测量气体和液体中的水份含量。  
M系列氧化铝水份探头可测量气体和非水液体中从微量到常量的水份含量。它可与GEPanametrics的所有水份分析仪配合使用。使用方便、宽测量范围和严格的校准稳定性使这系统成为世界范围内工业水份测量的*。它有出众的灵敏性,响应速度和标定稳定性。
 

M2LR-00-000-0美国GE露点仪

M2LR探头

M2LR GE漏点测试仪探头
漏点测试仪探头
该探头M2LR-00-000-0 GE漏点测试仪探头具有的氧化层薄膜厚度使得其显示真正的湿度,而不是相对湿度响应,同时使得温度与滞后的影响降至zui低。使用M系列氧化铝水份探头再气体与液体中直接测量水的蒸汽压非常便利与有效。该探头经过一系列特殊工艺阳极电镀使铝基表面产生多孔氧化层并形成极薄金镀层,铝基与金镀层形成两个电极,整个结构成为一个氧化铝电容

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