Micropioneer XRF-2000L测厚仪膜厚仪

XRF-2000系列型号均已升级为XRF-2020系列

功能及应用:快速无损测量电镀层厚度

可测单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层

仪器规格

XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高10cm:台载重5kg

仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量

多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

Microp XRF-2020测厚仪(韩国微先锋）

快速无损测量镀金，镀银，镀锡，镀银，镀镍，镀铜，镀锌镍合金等！

测量原理：

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

X-RAY膜厚测量仪韩国XRF-2020测厚仪

功能及应用:快速无损测量电镀层厚度

可测单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层

Micropioneer XRF-2000L测厚仪膜厚仪

XRF-2000系列型号均已升级为XRF-2020系列