上海仪电分析(上分)760CRT 双光束紫外可见分光光度计

760CRT上海仪电分析(上分)760CRT 双光束紫外可见分光光度计

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2017-10-23 09:41:26
428
属性:
波长范围:紫外可见近红外,190-900nm;波长范围:紫外可见近红外,190-900nm;波长准确度:±0.3nm(内装自动波长校正装置)nm;光谱带宽:0.08 - 5nm,间隔0.01nm连续可调nm;价格区间:5万-7万;接收器类:CMOS;仪器结构:双光束;杂散光(S.L.):≤0.08% (T) (在220nm处,以Nal测定)(在360nm处,以Na%T;自动程度:手动波长;
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产品属性
波长范围
紫外可见近红外,190-900nm
波长范围
紫外可见近红外,190-900nm
波长准确度
±0.3nm(内装自动波长校正装置)nm
光谱带宽
0.08 - 5nm,间隔0.01nm连续可调nm
价格区间
5万-7万
接收器类
CMOS
仪器结构
双光束
杂散光(S.L.)
≤0.08% (T) (在220nm处,以Nal测定)(在360nm处,以Na%T
自动程度
手动波长
关闭
武汉东仪实验室设备有限公司

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产品简介

上海仪电分析(上分)760CRT 双光束紫外可见分光光度计是软件基于Windows7平台的自动记录分光光度计,界面友好、美观,操作简单,通过打印机可打印出图文合一的分析报告,并可将图谱数据或测试数据传送Execl进行处理,可将图谱贴至Word中发表。仪器具有波长扫描、时间扫描、定量分析、定波长测试、多波长测试等功能,适合用于医药、药学、生物化学、环境保

护、化学工业等实验室的日常分析和研究工作的

详细介绍

 

主要特点:

 

● 采用全息闪耀光栅,双光束 C - T 式光路结构,高分辨率,低杂散光,测光精度高,稳定性能好。

● 微机控制,自动记录,打印机可在一张记录纸上打印出含有光谱图、测试数据及操作参数的测试报告。

● 光源自动转换(可在294nm~364nm间任意设定)

● 功能*的光谱处理能力。

 

 

760CRT.png

 

软件特点:

 

● 信息存贮容量大,保存方便。

● 软件提供四个图谱通道临时贮存图谱,可进行覆盖和重叠方式的透过率、吸光度、吸收度对数和能量图谱扫描,透过率和吸光度的图谱可轻松地相互转换,对图谱可进行图谱和图谱、图谱和系的图谱可轻松地相互转换,对图谱可进行图谱和图谱、图谱和系数的四则运算、导数运算。

● 图谱的峰谷检测、缩放轻松自如。

● 时间扫描可进行动力学研究。

● 定量分析提供了浓度线性回归法、方法中提供了待定系数法和系数输入法可进行曲线拟合及异常点剔除、2λ的测定。

● 软件提供了定波长和多波长测试,并可对测试数据进行注释,对同一样品多用户的测试提供了方便,多波长测试则可进行多达20个点波长的测试。

● 可轻松地将贮存图谱的参数设置为仪器当前测试条件。

● 打印机可进行参数与图谱打印、参数与图谱及数据打印、参数与数据打印和工作曲线的打印。

 

 

技术指标:

 

● 测光方式:双光束

● 单色器:Czerny-Turner

● 焦距:200mm

● 光栅:全息闪耀,1600线/mm

● 光束分光系统:斩波器

● 检测器:光电倍增管R928

● 光谱带宽:0.08 - 5nm,间隔0.01nm连续可调

● 波长设定:电脑输入

● 波长范围:190nm ~ 900nm

● 波长zui大允许误差:±0.3nm(内装自动波长校正装置)

● 波长重复性:≤ 0.2nm

● 分辨率:优于 0.15nm

● 透射比zui大允许误差:±0.3% (T) (以NBS930D测定)

● 透射比重复性:≤ 0.2% (T)

● 杂散光:≤0.08% (T) (在220nm处,以Nal测定)(在360nm处,以NaNO2测定)

● 基线平直度:≤±0.002 (A)

● 噪声:±0.3% (T) (*处) ±0.1% (T) (0%处)

● 扫描速度:快、中、慢

● 稳定性:≤±0.004 A/30min

● 电源电压:AC220V±22V 50Hz±1Hz

● 功率:300 W

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