HYCLJ-BII（J）-全半导体激光尘埃粒子计数器_激光粒度仪-北京东立环宇电子科技有限公司手机版

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品牌：东立环宇型号：HYCLJ-BII（J）

HYCLJ-BII（J）全半导体激光尘埃粒子计数器
　　该仪器的技术指标满足国家计量总局颁布的JJG547-88检定规程的要求，整机功能采用微电脑控制处理，可直接打印检测结果。具有功能多、测量精度高、速度快、便于携带和操作简单等特点。仪器一次采样可同时测得多种粒径的尘埃粒子数，并能选择观察其中某一粒径粒子的数目及其变化情况，对于研究、检测和评价各种洁净环境都十分方便。
　　该系列产品已被广泛应用于微电子、医院、制药、医疗器械、生化制品、食品卫生、精细化工、精密机械和hang空航天等生产和科研部门，是制药企业及其监督管理部门贯彻GMP规范的*仪器。该系列仪器性能设计*、质量稳定可靠，深受用户欢迎。经国内贸易部有关部门的市场调查和*，先后获《质量信得过产品》、《消费者信得过产品》、《质量监督合格产品》等荣誉证书。
全半导体激光尘埃粒子计数器主要功能和技术参数:

型号	HYCLJ-BⅡ（J）
采样流量	2.83L/min
检测范围	100级～30万级
自净时间	≤10min
连续工作时间	8h
打印功能	内置打印机
工作环境	温度10~35℃，相对湿度≤75%
电源	220V±10%，50Hz±2Hz
粒径通道	0.3，0.5，1，3，5，10（um）六通道
采样周期	1min~10min（10档）
时钟	有时钟
公英制转换	有公英制转换
判断净化级别	按95%置信度判断净化级别
电源及寿命	全半导体激光>30000h
功耗	35W
外形尺寸	22.5X10X25（cm）
重量	4Kg

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