导热硅脂工频介电常数介质损耗测试仪

BQS-37导热硅脂工频介电常数介质损耗测试仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-08-16 16:35:12
1962
属性:
产地类别:国产;价格区间:2万-5万;应用领域:电气,综合;
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产品属性
产地类别
国产
价格区间
2万-5万
应用领域
电气,综合
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北京北广精仪仪器设备有限公司

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产品简介

导热硅脂工频介电常数介质损耗测试仪直径为10cm或更大些,需要测低损耗因数值时,很重要的一点是导线串联电阻引入损耗要尽可能地小。

厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化,对1%的精确度来讲,1.5mm的厚度就足够了。

详细介绍

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注:湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。

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导热硅脂工频介电常数介质损耗测试仪

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最大的误差来自试样尺寸的误差,尤其是试样厚度的误差,因此厚度应足够大,以满足测量所需要的精确度。


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技的:特术辅性桥

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其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时针对环境湿度进行控制是B不可少的。

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在较高的频率下,只要电介质中不出现局部放电,电容率和介质损耗因数与电场强度无关。试样和电极固体绝缘材料试样的几何形状。

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但是对于更高精确度,最好是采用较厚的试样,例如6mm~12mm,测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上。

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且厚度均匀度在±1%内,如果材料的密度是已知的,则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。

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测量10pF的电容时,使用有良好屏蔽保护的仪器,由于现有仪器的极限分辨能力约1pF,因此试样应薄些。

电场强度存在界面极化时,自由离子的数目随电场强度增大而增加,其损耗数量最大值的大小和位置也随此而变。


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测定材料的电容率和介质损耗因数,最好采用板状试样,也可采用管状试样。在测定电容率需要较高精度时。


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电桥量敏测灵度


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