白俄罗斯EssentOptics公司基于*性设计的分光光度计和单色仪来开发和生产光学仪器设备。PHOTON RT 紫外可见中波红外分光光度计可以满足目前以及未来的光学工业用户的需求。

该光度计可以实现对光学镀膜样品进行无人值守测量的仪器。其测量波长范围185nm到5200nm，可以在宽角度和宽波长范围测量反射率、透过率和偏振态。

紫外可见中波红外分光光度计优势：

拥有比市场上同类仪器超过10倍的测量速度；

改变测量入射角度时不需重新校准基准；

在基片的同一区域可以测量透过滤和反射率——*用于薄膜设计的逆推分析；

*的自动化过程将测量过程中的人为错误*地zui小化；

单一仪器中可设置、记录宽波长范围： 190-4900 nm和 380-5200 nm；

特点和测量能力 (不需额外附加装置):

可设置波长范围：190-4900 nm 和 380-5200 nm

内置宽谱带高对比偏光镜，覆盖 波长范围220-5200 nm

*的偏光镜设置： S， P， S+P+(S+P)/2， 随机和用户自定义S：P

镜面反射测量(R, Rs, Rp)@ 8-75deg AOI

透射比测量 (T, Ts, Tp)@ 0-75 deg AOI

无人值守测量和随机T(s+p)/2和 R(s+p)/2偏振计算

无反射基片的吸收比测量

内建光束位移补偿对厚样品的任意角度下的透射比测量

对单个或多个样品的无人值守批量测量

对单层均匀膜层的复折射率和膜层厚度的测定

在用户选择波长范围内对R和T值的平均化

依据A型照明光源和人眼光谱敏感性对R和T值进行积分调整

样品的光密度测量，0 – 4 (D)

展示图：