薄膜材料厚度均匀性测试仪

主要特点

接触式测量原理

测厚传感器

触摸屏操作

扁平化人机交互界面显示

真彩色液晶显示试验数据、结果

手动、循环、预约定时多种测量模式

配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告

配置标准通信接口

可支持DSM实验室数据管理系统，实现数据管理（选购）

技术指标

测量范围：0～2mm（标配）

0～10mm（可选）

分 辨 率：0.1μm

测量速度：1~25次/min（可调）

测 量 头：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（标配）

纸张：200mm2，50±1kPa（可选）        

薄膜材料厚度均匀性测试仪

执行标准

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

产品配置

标准配置：主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块

选 购 件：纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM实验室数据管理系统
阻隔性：透氧仪、透湿仪、透气仪、水蒸气透过率测试仪、超高压气体透过率测试仪、分离膜测试仪、电池隔膜透气度仪

常规物理性：包装拉力试验机、高精度剥离力测试仪、动静摩擦系数仪、热封试验仪、热封强度测试仪、薄膜冲击试验仪、密封试验仪、高精度薄膜测厚仪、扭矩仪、包装性能测试仪、卡式瓶滑动性测试仪、电化铝剥离试验仪、离型纸剥离仪、泄漏强度测试仪、弹性模量测试仪等

注：产品技术规格如有变更，恕不另行通知！