带有集成静电中和技术的分析天平可以解决静电烦恼，并确保各种分析称重应用的准确性，是一种紧凑且有效的解决方案。Cubis® II 分析天平和半微量天平集成了电荷中和技术，以实现准确的称量性能。

静电荷是如何形成的

电子逸出功是指一个电子离开金属表面所需的能量。两个物体之间的摩擦会引发离子形成，因此电子逸出功较低的物质很容易给电子逸出功较高的物质提供电子。在称重过程中，样品内部或样品与容器或皮重容器之间存在摩擦，会产生静电。

静电荷对分析称重的影响

待称重物质与天平固定部位相互作用，因该部位与称重盘（包括通风罩或底板）没有导电连接，所以导致物质表面电荷积聚，进而产生静电力。这些静电力可能会产生虚假绝对重量（即与实际重量显著偏离），并影响称重精度。当电荷通过称量盘消散时，静电力的变化会导致漂移，从而产生不一致的结果并降低重复性。

静电中和技术

赛多利斯 Cubis® II 采用了集成的电荷中和技术，可有效去除样品和容器中的电荷，从而实现更精确的分析称重。