X-4显微熔点测定仪可广泛应用于医药、化工纺织、橡胶、制药等方面的生产化验、药品检验和高等院校化学系等部门的单晶或共晶等有机物质的分析；晶体的观察和晶体熔点温度的测定；X-4显微熔点测定仪为研究工程材料、固体物理、观察物体在加热状态下的形变、色变及物体三态转化等物理变化的过程，提供了有力的检测手段。

X-4显微熔点测定仪结构原理：熔点仪显微镜、加热台为分体结构,通过简单插入式热传感器相联接，装配简单,使用方便，显微镜用来观察样品受热后的反映变化及熔化的全过程。X-4显微熔点测定仪加热台用电热丝加热，LED数显温度，自动恒温，可设定恒温时间，通过设定温度和调节输出电压达到控制温升速度和恒温目的。X-4显微熔点测定仪带有散热器,当实验完成后可用于快速降温。可用于载波片法测量，也可用毛细管测量熔点。

X-4显微熔点测定仪技术参数：

放大倍数：2X/4X物镜，10X目镜；       工作距离：30-110mm；

物方视场：Φ110mm-Φ3mm；             测定量：小于1mg/次；

测定误差：满量程±0.5%；              测量准确度：±0.5℃