雷尼绍 Renishaw PH20五轴触发式系统

PH20五轴触发式系统
PH20的*“测座碰触”可以仅通过移动测座、而不是坐标测量机结构来采集测量点。仅使用测座的快速旋转运动，可更快地采集测量点，并且提高了精度和重 复精度。此外，五轴运动可省去旋转测座的时间。综合上述因素，这些速度的显著提高使得新系统的测量效率比传统系统提高了两倍。

动动您的测头！性能更佳
PH20五轴运动：传统触发测量方法依靠加快坐标测量机的三轴运动速度进行快速测量，PH20与之不同，它采用为REVO®系统（曾获得多项殊荣）开发的测座运动技术，可在较高的测量速度下将坐标测量机的动态误差降至zui低。
智能测座技术采用“测座碰触”方法，仅移动测座而非坐标测量机结构即可采集测量点，实现了快速触发测量。仅使用测座的快速旋转运动，可更快地采集测量点，并且提高了精度和重复精度。

在任意角度均易于测触特征
PH20轴范围 PH20的无级定位能力可保证*的工件测量，zui大限度地减少测针的更换次数。
五轴同步运动通过zui大限度减少工件周围测座旋转所需的空间，实现在坐标测量机上测量较大工件。
PH20使用工件坐标系自动对齐，可避免测针碰撞，而且无需精密夹具。

快速校准
为PH20开发的*“推论校正”技术可以一次确定测座方向和测头位置，可实现以任意测座角度完成后续测量。其他模块在使用之前，只需简单碰触标定球的几个点即可。（如果需要提高测量精度，可循工件特定方向个别校正测头端部。）
由于为符合质量管理程序或在测头碰撞后，定期重复进行校正过程，因此日积月累，可以节省大量的时间。

内置行业标准TP20测头
PH20和TP20模块 PH20测座的用户可以直接配用一系列成熟的TP20测头模块，提供各种测力、方向感应选项和加长杆，以满足应用需求*。磁力式模块可提供碰撞保护，并可以利用MCR20NI交换架实现自动交换。

触发测量性能显著提高
重复精度 — 使用“测座碰触”方法时获得提高
精度 — 通过使用基于特征的校正和“测座碰触”而获得提高
预行程偏差 — 自动补偿
模块交换 — 端部偏置自动修正