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新的性能等级，可在*高分辨率下进行完整而准确的测量；
使用*高分辨率的La Nouvelle参考，实现完整和准确测量的全新性能水平。
| ●基于计算机断层扫描原理的用于三维测量的多传感器坐标测量机。适用于L = 645mm和Ø= 350mm以下的部件（采用扫描层析成像*** ） ●可选的第二传感器轴，用于无冲突的多传感器操作，用于与其他传感器（测头，光学传感器）组合测量 ●基本装置由稳定的硬岩构造制成，具有集成的旋转轴 ●机械安装的精密线性导轨，在所有轴上均具有电机驱动 ●符合X射线法规的全面保护装置的类型 ●只需几分钟即可完成初始采样，而不是几小时或几天 ●通过Werth®自动校正通过多传感器技术对断层测量结果进行反馈 ●CT传感器系统的一次性校准 ●扫描层析成像： -高分辨率测量微小特征，甚至在大型组件上 -用于将测量范围扩展到L = 500mm ●用于速度优化的3D工件几何重构软件 ●用于X射线图像采集和处理的图像处理系统 ●WinWerth-图形交互，用户友好的测量软件 | ●采用计算机断层CT原理的3D测量用多传感器坐标测量机。适用于*大L = 645和Ø= 350mm的零件（光栅成像***） ●可选的第二Z轴，与其他传感器（触觉传感器系统，光学传感器）结合使用，可在多传感器模式中实现无碰撞操作 ●集成旋转轴的坚固花岗岩底座 ●机械支撑的电动精密线性导轨在所有轴上 ●符合X射线设备规定的全面防护屏蔽结构 ●数分钟而不是数小时或数天的*检查 ●通过Werth AutoCorrection使用多传感器技术对断层测量结果进行追溯 ●CT传感器技术的单次校准 ●光栅层析成像：–用于高分辨率测量细小特征，甚至在大型样品上–用于将测量区域扩展至L = 500mm ●优化3D工件几何重构速度的软件 ●用于X射线图像的生成和处理的图像处理系统 ●WinWerth®–图形化交互式，用户友好的测量软件 | ●根据计算机断层扫描原理进行三维测量的多传感器测量设备。适用于L = 645和Ø= 350mm以下的零件（断层扫描光栅***） ●可选的第二Z轴，用于与其他传感器（机械探头，光学传感器）组合使用时无任何碰撞的多传感器操作 ●基本单元由带有集成旋转轴的花岗岩结构组成 ●机械装置安装在全轴电动精密导轨上 ●根据X射线设备标准设计的自我保护机器 ●只需几分钟即可完成首部分验证，而不是几小时或几天 ●通过AutoCorrection Werth使用多传感器技术对断层扫描中测量结果的可追溯性 ●简化CT传感器技术的校准 ●网格层析成像：-适用于高分辨率的小元件或大型零件-使测量体积扩大到L = 500mm ●用于优化零件3D几何形状重建速度的软件 ●图像分析以生成和处理X射线图像 ●扩展功能可直接测量2D X射线图像 ●WinWerth®-交互式，用户友好的图形界面 |
