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超声波测厚仪
型号： leeb332
仪器资料：
超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精度测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
技术参数
项目名称 | Leeb332 |
示值误差 | ±（1%H+0.1）mm H为被测物体实际厚度 |
测量范围 | 0.75~350mm（钢，由探头决定，标配探头范围1~250mm） |
显示分辨率 | 0.01mm |
声速范围 | 1000~9999m/s |
存储 | 2000组 |
使用环境 | -10~60℃（非高温探头） -10~300℃（高温探头） |
PC通讯 | 有 |
电源 | AA型碱性电池2节 |
工作时间 | 100小时 |
壳体材料 | 金属外壳 |
外形尺寸 | 130*70*25 mm |
重量 | 450g |
标准配置 | 主机、L51探头、碱性电池2节、耦合剂 |
可选配件 | 各类探头、耦合剂、打印纸 |
| 类型 | 型号 | 名称 | 频率（MHz） | 探头直径 | 测量范围 | 小管径 | 特性描述 |
| 标准探头 | L58 | 5P10/90 | 5 | 10mm | 0.8～200 mm（钢） | Φ20mm×3.0mm | 常温使用（＜60℃） |
| 标准探头 | L51 | 5P10 | 5 | 10mm | 1.0～250 mm（钢） | Φ20mm×3.0mm | 常温使用（＜60℃） |
| 微径探头 | L77 | 7P6 | 7 | 6mm | 0.7～50 mm（钢） | Φ15mm×2.0mm | 薄壁及小弧面测量， 常温使用（＜60℃） |
| 粗晶探头 | LZ2 | SZ2.5P | 2 | 22mm | 2.5～350 mm（钢） | Φ20mm | 铸铁等粗晶材质测量， 常温使用（＜60℃） |
| 高温探头 | LG5 | 5 | 14mm | 2～100 mm（钢） | Φ30mm | 可用于高温度材料的测量 （＜300℃） |
