x射线镀层测厚仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
x射线镀层测厚仪性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；
采用高度定位激光，可自动定位测试高度；
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐；
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；
高分辨率探头使分析结果更加准确；
良好的射线屏蔽作用；
测试口高度敏感性传感器保护。
标准配置
开放式样品腔。
二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
FAST-SDD探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器。
保护传感器。
计算机及喷墨打印机。
x射线镀层测厚仪的应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测；
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定；
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
