天瑞晶元镀层厚度测厚仪特点：
1、满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
2、0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
3、高精度移动平台可jingzhun定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
4、采用高度定位激光，可自动定位测试高度
5、定位激光jingzhun定位光斑，确保测试点与光斑对齐
6、鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
7、高分辨率探头使分析结果加
8、良好的射线屏蔽作用
9、测试口高度敏感性传感器保护
天瑞晶元镀层厚度测厚仪技术指标：
1、元素分析范围：硫(S)-铀(U)
2、yi次可同时分析：多24个元素，5层镀层
3、分析含量：2ppm- 99.9%
4、镀层厚度：50um以内(每种材料有所不同)
5、任意多个可选择的分析和识别模型
6、
仪器尺寸：576 (W) x 495(D) x 545(H)mm
7、相互的基体效应校正模型
8、多变量非线性回收程序
9、温度适应范围：15C - 30C
10、电源：交流220V+5V，建议配置交流净化稳压电源
11、重量：90kg
标准配置：
开放式样品腔
高低压电源
双激光定位装置
X光管
铅玻璃屏蔽罩
高度传感器
Si-Pin探测器
保护传感器
信号检测电子电路
计算机及喷墨打印机
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动
