主要特点

• 放大成像测量被测物体的精细形状。光学镜头放大被测物体。适用于测量轻、薄、短、小的电子半导体零件、医疗设备的精密加工零件等。

• 非接触式测量可防止被测物体损坏、变形和污染。非接触式测量消除了损坏被测物体的风险。适用于对清洁度有要求的电子半导体部件、树脂成型品等软质物体、冲压成型品等薄型物体的测量。

• 物体的高速多点测量通过培养的图像处理技术和高速载物台控制，可以实现高通量测量。适用于测量项目多、批量生产的测量对象的过程控制。

• 可进行高精度非接触式高度测量 高性能图像自动对焦和非接触式位移传感器可实现高精度高度测量。

• 不移动三维物体的测量触发式探头与触发式测头组合使用时，可以在不旋转物体的情况下测量任意高度的物体侧面，从而可以测量以前难以测量的三维物体。

• 高性能多重自动对焦QV系列标配高性能图像自动对焦，图像自动对焦保证精度。各种自动对焦工具允许您为每个表面纹理和测量区域选择最佳焦点，从而实现高度可靠的高度测量。此外，自动对焦速度也很快，实现了总测量吞吐量的增加。

• 这是一种用于测量大型物体的图像测量机，在主体结构中采用门运动。

• 由于闸板移动结构不移动载物台，可简化工件固定方式，适用于轻、薄、短、小工件。

• QV ACCEL1212（测量范围：1250 x 1250 x 100 mm）和QV ACCEL1517（测量范围：1500 x 1750 x 100 mm）可定制。