JB4040表面污染检测仪简介：

JB4040型智能化β、γ表面污染检测仪，适用于低水平β、γ辐射表面污染检测，同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器，具有较高的探测效率；是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行α，β辐射表面污染检测或X，γ辐射防护监测的仪器，该仪器采用单片机控制，LCD液晶显示，读数清晰、操作方便。特点 GM探测器阵列，探测效率高 便携式设计，重量轻 单片机控制，软件功能强 LCD液晶显示，会话式操作界面 计数率显示cpm、cps、μSv/h 电池失效报警

主要技术指标：

计数范围：1～1000000 

显示单位：cpm、cps、μSv/h 

探测器面积：35cm2 灵 敏 度：≥500cpm/μSv/h 

剂量率范围：0～200.00µSv/h 

仪器本底：β≤130 cpm 

相对误差：测量范围内相对基本误差≤20% 

供电电源：2节1.5v普通1号电池，整机电流≤60mA 

温度范围：-10℃～45℃ 

湿度范围：相对湿度≤90%（40℃） 

尺寸重量：0.64kg;20×10×5（cm）