WJ1-SGC-I-椭圆偏振测厚仪_测厚仪-北京东目仪器有限公司手机版

WJ1-SGC-I椭圆偏振测厚仪

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2017-01-11 00:11:22: 1408

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产品简介

※ 测量范围 1nm-300nm
※ 测量Z小值 ≤1nm
※ 入射角 30°- 90° 误差≤0.1°
※ 偏振器方位角读数范围 0°- 180°
※ 度盘刻度每格2度

详细介绍

※ 测量范围 1nm-300nm

※ 测量zui小值 ≤1nm

※ 入射角 30°- 90° 误差≤0.1°

※ 偏振器方位角读数范围 0°- 180°

※ 度盘刻度每格2度

※ 游标zui小读数 0.05°

※ 光学中心高度 152

※ 工作台直径 ?70

※ 外形尺寸 730*230*290

※ 主机重量 20kg

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