椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。

这次带来了bruker的FilmTek 6000 PAR-SE、FilmTek 2000M TSV、FilmTek CD、FilmTek 2000 PAR-SE四个型号。

Bruker椭偏仪可以满足多种前沿器件制造技术相关的需求。可独立测量薄膜厚度和折射率，显著提高其对薄膜变化的灵敏度，尤其是多层堆叠中的变化。

而且应用领域广泛，可应用于半导体、微电子、MEMS、通讯、数据存储、光学镀膜、平板显示器、科学研究、物理、化学、生物、医药等等多种范围。

因为具有快速、实时优化功能的专有衍射软件。，可以轻松修改以满足研发和生产环境中的客户需求。

Bruker椭偏仪在上海尔迪仪器科技有限公司有售，有需要可联系我司。