台式光谱仪

Belec IN-SPECT台式光谱仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-12-13 13:23:24
1927
属性:
激发方式:火花;价格区间:面议;检测器类:双检测器(PMT+CCD);仪器种类:台式;应用领域:建材,电子,冶金,汽车,综合;宽:30.5英寸;高:14.9英寸;深度:23.6英寸(附加6.1英寸火花台);电源:230V?/?50Hz或110V?/?60Hz;
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产品属性
激发方式
火花
价格区间
面议
检测器类
双检测器(PMT+CCD)
仪器种类
台式
应用领域
建材,电子,冶金,汽车,综合
30.5英寸
14.9英寸
深度
23.6英寸(附加6.1英寸火花台)
电源
230V?/?50Hz或110V?/?60Hz
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苏州恒商工业设备有限公司

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产品简介

Belec IN-SPECT台式光谱仪是用于金属分析的新型紧凑型固定光谱仪。标准配置的惰性气体流动的光学光谱室,和对分析要求的不断优化使得设备富有吸引力。同时,Belec IN-SPECT为用户提供了高性能和准确性。
连同其它配件一起,设备显示了一个真正的分析单元,取代传统的笨重而庞大的系统。

详细介绍

Belec IN-SPECT台式光谱仪


Belec IN-SPECT台式光谱仪是用于金属分析的新型紧凑型固定光谱仪。 台式仪器以压缩的方式将复杂的实验室仪器的大部分功能结合在一起。

产品功能

•新型的5GSO系统提高整体分析效能(第5代光谱仪光学系统)

•新型的探测器,*展现在光谱学的应用

•结构紧凑

•服务和操作方面人性化设计

•低检测下限的精度

•易于操作的Belec Win 21软件

•开放式火花台

•富有吸引力的设计

•专业人员的安装和指导


Belec IN-SPECT是所有中小型企业具有吸引力的合作伙伴。 标准配置的惰性气体流动的光学光谱室,和对分析要求的不断优化使得设备富有吸引力。

同时,Belec IN-SPECT为用户提供了高性能和准确性。连同其它配件一起,设备显示了一个真正的分析单元,取代传统的笨重而庞大的系统。集成光谱仪,包含新型的5GSO系统,由BELEC工程师设计,可以在任何类型的光谱线同时应用时也不会出现相互的干扰。

从现在开始,每日的校正程序都已成为历史,新的MCDC系统(多信道漂移校正)可以自动地实现。一次漂移校正可以在几个星期内保持良好的结果。

Belec IN-SPECT适用于实验室操作。 所需空间很小,使得可以将仪器放置在几乎任何可能的位置。


光学

•帕刑-龙格装置光谱室

•罗兰圆直径300mm

•可用波长145-410 nm

•光栅,3600线/ mm

•色散率0.9 nm / mm(1次)

•耐冲击

•恒温探测器配备波长入射窗口(US许可)

•集成噪声补偿

•宽7μ像素优化线分离

•一个基体模块*校正,延伸到几乎无限的额外基体模块

•无限数量的元素信道

•惰性气体光谱室带净化系统

•可选配置为:真空光谱室代替惰性气体交换光谱室

光源

•火花发生器的最大频率400 Hz

•单极放电

•通过软件控制预火花参数和集成数据参数

•通过软件控制点火频率程序

•通过软件控制放电功率程序

•点火电压20 kV

测量台

•为精确分析的氩气流测量台

•火花测量台上带Ø10mm分析口,可选带Ø4mm分析口的陶瓷或金属垫片

•可配合线材、管材和小零件的适配器使用

•低损钨电极

•气动试样夹具

•氩气流量待机时0.1 l / min,分析时2 l / min

•免维护

电子器件

•10个探测器,每个3648像素,宽7μ像素

•温度稳定,精确到0.1°C

•每个探测器都有独立的AD转换器,安装在多通道板上,以高速通用USB端口连接

•集成噪声抑制 - 集成背景补偿

•无限数量的测量信道,可配置多个基体

尺寸

•宽30.5英寸(775毫米)

•高14.9英寸(380毫米)

•深度23.6英寸(600毫米)附加6.1英寸(155毫米)的火花台

重量

•分析单元152.1磅 (69kg)附加显示器和键盘

电源

•230V / 50Hz或110V / 60Hz

•100 W待机时

•600 W分析时

真空系统电源(可选)

•600 W待机时

•1100W分析时

计算机硬件

•系统集成工业计算机系统

•Intel®Core®Duo T7400(2.16 GHz,4MBL2)

•2 GB DDR2 SD RAM内存

•2.5“硬盘60 GB

•19“彩色显示器,其他尺寸也可用

•全尺寸外接键盘

•USB 2.0端口

•以太网接口

软件

通用操作系统,例如MS Windows 7

•远程服务系统(RSS)

•每次测量都会显示分析值

•可以根据客户要求设计不同分析程序

•每个分析程序都有独立的分析参数

•自动选择程序(APF)

•分析计算:背景修正,曲线位置修正,乘和加相互修正

•以标准类型进行自动修正(类型校准)

•容易同时进行多个程序的重校正(BGR)

•混料分选通过与参考工件的测量数据进行比较

•牌号分析是与预设的牌号范围进行比较

•类型校正和类型测量

•每个分析程序在相对和绝对含量的公差,可调整

•可选测量结果的平均和标准偏差

•当数据超过校正曲线时,会有报警信号

•轻松的同时重新校准几个程序

•通过使用MCDC(多信道漂移校正)延长重校正所需的周期

•自动提示定期重校正

•自动显示牌号或物料号

•合金牌号数据库可达100.000个或以上(取决于计算机存储量)

•显示器上文字的大小可变,以达到良好的清晰度

•自动存储功能




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