介电常数介质损耗测试仪
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介电常数介质损耗测试仪

QS37A介电常数介质损耗测试仪

参考价: ¥18000~¥110000/件

具体成交价以合同协议为准
2024-08-21 14:28:13
2639
属性:
产地类别:国产;价格区间:5万-10万;应用领域:综合;
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产品属性
产地类别
国产
价格区间
5万-10万
应用领域
综合
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北京中航时代仪器设备有限公司

北京中航时代仪器设备有限公司

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产品简介

QS37a型介电常数介质损耗测试仪主要用于测量高压工业绝缘介质损耗角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路,主要可以测量各种绝缘材料在工频高压下的介质损耗(tgδ)和电容量(C)及介电常数(ε)。

详细介绍

QS37a型介电常数介质损耗测试仪

一、符合标准:

GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法.

GB/T5654-2007液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量.

仪器特点

1、桥体内附电位跟踪器及指零仪,外围接线极少。

2、电桥采用接触电阻小,机械寿命长的十进开关,保证测量的稳定性。

3、仪器具有双屏蔽,能有效防止外部电磁场的干扰。

4、QS37a型介电常数介质损耗测试仪器内部电阻及电容元件经特殊老化处理,使仪器技术性能稳定可靠。

5、仪器内置100pF标准电容器及5000V数字式高压测试电源。

、技术指标

1、测量范围及误差

本电桥的环境温度为20±5℃,相对湿度为30%-80%条件下,应满足下列表中的技术指示要求。

Cn=100 pFR4=3183.2(Ω)时

测量项目

测量范围

测量误差

电容量Cx

40pF—20000pF

±0.5%  Cx±2pF

介损损耗tgδ

0-1

±1.5%  tgδx±0.0001

Cn=100 pFR4=318.3(Ω)时

测量项目

测量范围

测量误差

电容量Cx

4pF—2000pF

±0.5%  Cx±3pF

介损损耗tgδ

0-0.1

±1.5%  tgδx±0.0001


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