美国路阳 晶圆缺陷黄绿光表面检查灯LUYOR-3325G

wafer晶圆颗粒缺陷检查灯LUYOR-3325G系列是一款黄绿光表面检查灯，检测灯的原理利用适合的LED灯源，通过led发光，经过光学透镜聚焦的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作员肉眼可识别出工件表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵点，取代传统的照明设备和光学系统机台，直接通过照明光线和肉眼，观测出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，极大的节省了一般工厂的采购成本。 LUYOR-3325G检查灯采用人眼最敏感580NM之间波长光，来做zui简单与明确的判别，可检查到1um以下的刮痕或微粒子，几乎可检测出所有尘埃，大大降低产品不良率。使用寿命为2万小时以上。光源强度可达30万LX，最小可以检测1μ的表面脏污，比传统的检查灯，效用增强10倍.LUYOR-3325G可根据使用场景，使用便携手持式或桌面式（安装再台式支架上）。

LUYOR-3325G为交流电源供电，可以手持式操作，也可以台式操作。

LUYOR-3325GD为锂电池供电，可以手持式操作，也可以台式操作。

晶圆检测：用于晶圆测试的黄绿光LED检测灯,LUYOR-3325G专为晶圆质量保证和测试而设计的光学晶圆检测设备。

使用美国路阳 晶圆缺陷黄绿光表面检查灯进行晶圆检测：

• 使用无紫外线辐射的黄绿光灯进行晶圆检测

• 更换用于晶圆检测的紫外灯

• 在不使用汞蒸气灯的情况下测试晶圆

• 设计为滤波绿光灯或滤光黄光灯，用于晶圆检测

• 使用无紫外线和无汞的SECU-CHEK晶圆测试灯进行晶圆表面检测

为什么使用LUYOR-3325G半导体检测灯进行晶圆表面检测？

• 晶圆生产所需的高工艺可靠性

• 需要经济高效且无gu障的测试操作

• 晶圆测试对于晶圆制备和芯片生产的进一步成本密集型步骤至关重要

• 根据行业标准要求的专业解决方案

晶圆生产中存在哪些误差，LUYOR-3325G半导体检测灯的识别能力如何？

• 使用过滤后的黄光灯可以很好地检测到晶圆的缺陷

• 通过晶圆测试检测夹杂物

• 通过目视晶圆测试检测污染物

• 用黄绿光观察生长障碍

• 在光学晶圆测试期间识别面纱

• 使用LUYOR晶圆检测灯分析条纹

• 与用于晶圆测试的紫外灯和汞灯相比，可以更好地检测微观结构

• 通过晶圆检测检测生长孔

• 检查黄绿色灯的高对比度边缘变平

• 在光学晶圆检测中可以发现边缘干扰

• 使用晶圆上的质量检测灯检测结构变化

• 使用紫外黄光和绿光灯检测晶圆生产中的夹杂物

• 用过滤后的黄光灯识别不均匀