LCD材料的超低阶双折射测量

用于LCD的Exicor GEN系列

Hinds Instruments 公司的大尺寸高精应力双折射分布测量系统用于LED液晶玻璃基板的应力分布测量。产品测量精度*（0.005 nm），且定制平台扫描，用于LED液晶面板尺寸（Exicor Gen 6 - 1550 mm x 1850 mm / Exicor Gen 5  1150 mm x 1350 mm ）光学玻璃应力测量，大型液晶基板应力分布测量，应力测量。如用于LCD（高达1500mm x 1500mm）的光学材料。

光学玻璃应力测量重要特点：

•占地小 - 大限度地减少设备所需的工厂空间

•平台设计 -设计使可测量面积尽可能大

•强大的自动化 - 质量阶段和硬件正常运行时间

•稳定的服务支持 - 各地的支持中心和备件中心

•符合工业标准 - 符合S2 / S8和CE标准

•灵活的软件 - 优化的软件。 自定义功能和DLL接口可用

•低维护设计 - 易于维修的组件

•负载辅助 - 倾斜阶段选项