CRD高反射率测量仪
针对高反射率(R99.7%)的光学样品,德国 IPHT Jena研发了光腔衰荡光谱法(Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS)CRD高反射率测量仪, 它通过对指数型腔内衰荡信号的检测,去掉了传统检测方法中激光能量起伏所引起的误差,大大提高了测量精度。 参考价面议Hinds
美国Hidns Instruemtns -LCD材料的超低阶双折射测量Optlux SD光学表面瑕疵检测
QptLuxSD是一款创新性的光学表面瑕疵检测,具备高重复性和准确性,系统根据设定的检验标准自动生成详细的通过/失败报告,与光学行业现在很多的具有很强主观性的人工检验以及其他手动检验设备相比,提供光学表面质量控制性能,可以广泛用于光学元件生产、出货控制、进料检验等过程。 参考价面议OIA残余应力测量
该系统利用PEM调制光束的偏振状态、先进探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90°。利用这些数据可以对双折射、快速轴向和理论残余应力测量进行评估。在平板透镜和己完成透镜的研究和生产中, HindsInstruments和Exicor斜入射角技术被用于评估光学双折射 参考价面议150AT残余应力检测
150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品,用于残余应力检测。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量,也可用作诸如玻璃面板,透镜,晶体,单晶硅/多晶硅、注塑成品等工业生产中检测产品应力分布。产品软件直观显示待测样品应力情况,便于操作和日常监测。 参考价面议BEAMAGE系列光束质量分析仪
BEAMAGE系列光束质量分析仪分析激光光束是对其功率或能量测量的一种方便补充,因为光束质量分析仪提供了非常有用的附加信息,如空间能量或强度分布、光束宽度、质心、椭圆度和方向,可以帮助您确定您的激光系统是否在l;良好的状态下运行。光束质量分析仪Beamage是高性价比的USB3.0光束分析相机。它可用于紫外到红外波长,有两种尺寸。 参考价面议UP50-W系列激光功率计能量计
加拿大Gentec-EO是激光功率计能量计供应商。UP -50W系列:50 mm Ø, 5 mW – 85 W, 100 kW/cm2 。Exicor-System美国Hinds Instruments
美国Hinds Instruments 的Exicor®双折射测量技术于1999年推出,型号为150AT,为客户提供技术,具生产价值的测量双折射的能力。Exicor系统的高灵敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技术的产品,该技术推出了超低双折射光弹性调制器(PEM)。 参考价面议Exicor-OIA应力双折射
Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要应力双折射测量系统。该系统是建立在Hinds lnsrtuments 光弹调制器( PEM)基于Exicor®双折射测量技术。新一代的双折射测量系统为该行业提供了分析和开发下一代光刻透镜、透镜毛坯和高价值精密光学的新能力。 参考价面议Exicor® PV-Si应力双折射检测
在硅太阳能电池板的生产过程中,硅晶体中的应力在制作过程中往往没有被检测到,我们描述了一种测量硅锭的应力双折射检测,它可以是方形的,也可以是生长的,然后被锯成硅片,当这台仪器被用作质量控制工具时,在后续加工成本发生之前,可以识别出低质量的硅锭或钢锭。此外,该仪器还为硅晶体的生长提供了一种提高硅锭质量的工具,使其能够生产出较薄的硅片,降低了机械产量损失。 参考价面议Exicor GEN系列光学玻璃应力测量
光学玻璃应力测量占地小-大限度地减少设备所需的工厂空间;平台设计-使可测量面积尽可能大;强大的自动化-质量阶段和硬件正常运行时间。 参考价面议UP19-W 系列功率测量
UP19-W 系列功率测量,热电堆只是一系列热电偶串联连接并相互靠近。常见的应用是当施加电压以冷却热电堆的一侧以及它所粘合的任何一侧时。然而,激光功率测量热电堆用途相反。即,使用温度差制造电压。一侧的材料由激光受热(或任何其他辐射源),另一侧由散热片受热。由材料吸收的激光能量被转化为热量。由于一面的热吸收器和另一面的冷散热片,当热流经过时,整个热电设备存在温度差。此温度差致使热电堆产生电压。 参考价面议