高功率9.6mm*7.68mm光束质量分析仪
高功率9.6mm*7.68mm光束质量分析仪
高功率9.6mm*7.68mm光束质量分析仪

BLC-SWIR-9070高功率9.6mm*7.68mm光束质量分析仪

参考价: 面议/件

具体成交价以合同协议为准
2024-09-03 14:45:31
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深圳市博纳德精密仪器有限公司

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产品简介

深圳市博纳德自主研发的光斑分析仪是基于高分辨率CCD 和CMOS 面阵型光斑测量仪,是一款能够实时测量连续或脉冲激光束的实时诊断系统。目前包含3个不同型号产品,波长范围覆盖266~1700nm,像素最小达到2.5*2.5μm,探测器面积最大可达25*25mm。

详细介绍

深圳市博纳德自主研发的光斑分析仪是基于高分辨率CCD 和CMOS 面阵型光斑测量仪,是一款能够实时测量连续或脉冲激光束的实时诊断系统。目前包含3个不同型号产品,波长范围覆盖266~1700nm,像素最小达到2.5*2.5μm,探测器面积最大可达25*25mm。

LaserCheck系列光斑分析仪不仅能实时显示激光2D/3D图像,导出光强分布数据,且提供激光束参数实时演示和分析能力,具体测量的参数包括:光束直径、光斑的形状、位置、功率、强度分布、椭圆度等众多参数,同时还提供了报表功能,记录光束分析设置和可实现激光光斑质量检测、光斑大小、光斑点稳定性、一维、二维、三维能量分布等多参数测量,纯中文操作界面,直观友好,功能非常强大,目前已得到了广大科研和工业客户的一致认可。为了满足各客户特殊需求,我司还为客户提供定制的光束质量分析和一体化设计解决方案,如焦点分析仪、近场分析仪,且配套各类衰减方案和扩束、缩束模组,满足客户测量上百W功率和不同大小光斑大小的测试要求。

规格参数


型号BLC-SWIR-9070
感光面InGaAs
波长范围900-1700nm
感光⾯积9.6mm*7.68mm
可测尺⼨150um-7.68mm
像素大小15um
分辨率640x512
位深12bit
帧数30
曝光时间us 到 1s
增益58dB
触发
饱和强度0.2 μW/cm2
灵敏度
工作温度0-50℃
尺寸
相机⼯作模式CMOS 全局快门
电脑接⼝USB


配套衰减器(最高功率可测量>1000W)

高功率9.6mm*7.68mm光束质量分析仪



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