冷热冲击快速温变试验箱对不同电子构件，在实际使用环境中遭遇的温度条件，改变环境温差范围及急促升降温度改变，可以提供更为严格测试环境，缩短测试时间，降低测试费用，但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响，产生非使用状态的破坏试验。(需把握在失败机制依然未受影响的条件下)RAMP试验条件标示为：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是温度循环(可控制斜率的温度冲击)。

产品特点：

1、可执行AMP（等均温变）、三箱冲击（TC）、两箱冲击（TS）、高温储存、低温储存功能；

2、等均温速率赛思可设定范围5℃～30℃/min(40℃/min)；

3、满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求；

4、赛思采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行；

5、除霜周期三天除霜一次，每次只需1小时完成；

6、通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能；

7、感测器放置测试区出（回）风口赛思设计符合实验有效性；

8、机台多处报警监测，配置无线远程报警功能；

冷热冲击快速温变试验箱技术规格：