【详细说明】

XP205DR梅特勒微量分析天平技术特性：

· 红外感应器（SmartSense），实现无需用手接触的称量操作：开关门、打印、去皮等 

· 彩色智能触摸屏（SmartScreen），实现安全，便捷的天平操作 

· 网格秤盘（SmartGrid），获得快速、准确称量结果 

· 水平控制系统（LevelCControl）,  在天平偏移水平位置时提供警告提示功能 

· 易巧称量组件（ErgoClip），满足使用不同容器的称量需求 

· 用户管理工具（UserManagement），可以独立设置操作者的使用权限 

· MinWeighzui小称量值功能，提供符合规范的称量帮助（需要梅特勒-托利多客户服务工程师现场设置激活）

· 天平校验功能（BalanceCheck），自动提示用户使用外置砝码校验天平,确保称量结果始终准确 

· ProFACT专业级全自动校准技术，温度漂移和时间设置触发的内置砝码自动校准和全自动线性校准,获得精确称量结果 

· *可拆卸、清洗的防风罩设计，实现快速清洁 

· 高度可调节的内置防风罩，确保精确称量结果 

· 可移动、分离的显示控制终端，方便天平使用 

· 标配RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、USB、LocalCan、RS232和PS/2通讯接口选件插槽，方便连接打印机、电脑等外围设备

· 显示屏塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀

· 6种内置应用称量程序:简单称量、计件称量、百分比称量、密度测定、统计功能、公事称量

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XP205DR梅特勒微量分析天平技术指标：